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高分辨率TDR测试以及应用
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摘要
TDR(Time Domain Reflectometry)是一种通用的时域测试技术,广泛应用于PCB、电缆、连接器等领域。随着TDR设备性能的不断提高,对被测试器件不连续阻抗点的距离分辨率也越来越高。TDR逐渐进入IC芯片的失效分析(FA)以及电路模型提取领域。本文结合TDR设备的基本原理对高分辨率TDR设备及其应用进行了探讨。
作者
周英航
机构地区
泰克科技中国有限公司
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2007年第4期92-92,94,96,共3页
EDN CHINA
关键词
TDR测试
高分辨率
应用
DOMAIN
距离分辨率
测试技术
电路模型
失效分析
分类号
TN420.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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电子设计技术 EDN CHINA
2007年 第4期
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