摘要
针对目前流行的嵌入式芯片级测试技术,本文介绍了SoC测试技术的基本工作原理,利用93000SoC测试系统,提出了相关测试内容、方法并得出最终测试结果。
This paper Introduces basic principle of SoC measurement In Embedded Chip Measurement field,then prisents main content and related data of 93000 SoC Measure system.
出处
《电子质量》
2006年第4期17-19,共3页
Electronics Quality
关键词
嵌入武芯片
SOC
芯片测试
Embedded Chip
System on Chip
Chip measure
