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表面包覆纳米In_2O_3的Z-SCAN测量 被引量:4

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摘要 半导体纳米材料因其增大的三阶非线性效应和超快速的时间响应成为近些年倍受瞩目的新型非线性材料。Z-SCAN技术是测量材料三阶非线性大小的一种简便而灵敏的方法。本文首次利用Ar+连续激光Z-SCAN方法测定了用热水解法合成的表面包覆硬脂酸的纳米In2O3有机溶胶(用透射电子显微镜测得颗粒平均直径为5nm)的非共振三阶非线性系数XR3。发现其比体相材料增大了许多,可望使其获得更多的应用。
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第8期767-768,共2页 Chinese Science Bulletin
基金 国家自然科学基金
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Nie W J,Adv Mater,1993年,5卷,7/8期,520页

同被引文献82

引证文献4

二级引证文献51

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