摘要
毛细抽吸两相流体回路(CPL,CapillaryPumpedLoop)在运行过程中可能会发生蒸发器失效的现象,严重影响了其可靠性。文章对CPL在变工况过程中可能引起蒸发器失效的一些因素进行了分析,并通过实验研究了一个多回路耦合CPL系统在某些热边界条件发生骤变时,系统的瞬态响应以及部分蒸发器失效的过程。
Evaporator maybe deprimes when a Capillary Pumped Loop （CPL） is operating, which affects its reliability greatly. Deprime of evaporator may result from many factors which are analyzed in this paper. Moreover, a multiple loop coupling CPL experiment system is developed and tests are conducted to observe transient responses and deprime procedures of the system when some thermal boundary conditions change.
出处
《中国空间科学技术》
EI
CSCD
北大核心
2005年第4期19-24,共6页
Chinese Space Science and Technology
作者简介
刘庆志1975年生，2002年获北京航空航天大学航空宇航理论与推进工程专业工学硕士学位。目前在读中国空间技术研究院飞行器设计博士学位．主要从事航天器热控制方面研究。
