摘要
研制了基于萨伐尔偏光镜的稳态偏振干涉成像光谱仪(SPIIS),阐述了其分光机理。应用光线追迹法以及光线折射率的概念,分析了计算光在双折射横向剪切分束器———萨伐尔(Savart)偏光镜中的传播规律和光线路径;给出了任意角度入射时,萨伐尔偏光镜横向剪切量和光程差的理论计算公式。较目前所报道的,仅给出入射面与主截面平行时横向剪切量的特殊情况,具有更普遍的指导意义;为新型偏振干涉成像光谱仪的设计、研制、调试和工程化提供重要理论和实践指导。
The shearing principle of Savart polariscope in the static polarization interference imaging spectrometer (SPIIS) is presented and the exact expression of the lateral displacement and optical path difference (OPD) are deduced by ray-tracing method and the notion of ray index at random incidence angle. The theoretical and practical guidance are thereby provided for the study, design, modulation, experiment and engineering of the polarization interference imaging spectrometers.
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第7期885-890,共6页
Acta Optica Sinica
基金
国家自然科学基金(40375010
60278019)
陕西省科技攻关项目(2001K06-G12)资助课题
