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MCS—51细纱机工艺参数测试显示仪的研制

Study on the Technological Parameter Measurement Instrument constituted with MCS—51 single—chip microcomputer for spinning frame
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摘要 本文概述了采用MCS-51单片机构成的细纱机工艺参数测试仪。文中着重介绍了设计考虑的主要问题,硬件设计,软件编程和抗干扰措施。 The paper has summarized the technological parameter measurement instrument that was constituted with MCS-51 single-chip microcomputer for spinning frame.The main problems in design,hardware design,software arrangement and anti-interfer- ence measures have been mainly introduced.
出处 《天津纺织工学院学报》 北大核心 1993年第3期11-16,共6页 Journal of the Tianjin Institute of Textile Science and Technology
关键词 MCS-51 单片机 工艺参数 精纺机 MCS-51 single-chip microcomputer technological parameter spinning frame
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