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散斑二次曝光干涉法测量复合材料的形变

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摘要提出了一种测量复合材料形变的方法．用散斑二次曝光干涉上记录复合材料形变的信息，利用CCD及图像处理技术测量干涉条纹间距，从而得出复合材料的形变量．测量精度达到10μm，实验结果表明该方法对于复合材料形变的测量有效、精度高．

作者高明娟赵志敏庄显忠郭林峰王润涛

机构地区南京航空航天大学理学院

出处《光电子技术与信息》 2004年第6期104-104,共1页 Optoelectronic Technology & Information

关键词光干涉散斑干涉条纹形变实验结果记录图像处理技术复合材料曝光 CCD

分类号 TN958.98 [电子电信—信号与信息处理] O436.1 [机械工程—光学工程]

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光电子技术与信息

2004年第6期

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