摘要
基于线性、移不变理论 ,对射线面阵探测器成像的特性和系统成像所呈现出亮度不均匀的原因进行分析研究 通过分析线性系统成立的假设条件 ,给出了对实际成像中各像元点阵的偏置、灵敏度进行逐点校正的公式 在实验室 ,对基于PaxScan2 5 2 0面阵探测器的成像系统进行成像校正研究 ,取得了满意的效果 ,噪声得到有效的抑制 ,成像的不一致性得到改善 当检测较厚工件或工件厚度变化较大时 ,系统成像超出其线性范围 ,给出了二次校正的方法和公式 。
Based on the linearity shift-invariant theory,the imaging feature of flat-panel detector and the reason of uneven image are analyzed.By analyzing the assumed condition of linearity system tenable, the correct formula is obtained to correct the offset and sensitivity of each pixel. In the laboratory, the satisfying effect is gained on PaxScan2520 flat-panel detector. The noise is effective restrained and the nonuniformity is improved. The method of corrected again is presented when the workpieces imaging beyond the linearity range. The correction result is also proved effectively.
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第10期1277-1280,共4页
Acta Photonica Sinica
基金
国家自然科学基金项目 (6 0 172 0 14 )
关键词
射线成像
面阵探测器
不一致性
校正
偏置
灵敏度
Radiography
Flat-panel detector
Non-uniformity
Correction
Offset
Sensitivity
