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分光光度法测定电镍中的硅

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摘要 1 前言电镍中杂质硅的测定原来采用的是光谱仪测定,此方法流程长,极易污染,而且测定结果偏高。本试验采用钼蓝分光光度法测定硅,以电镍(含硅0.0001％～0.002％)试样为对象进行条件试验,拟定了测定电镍中微量硅的正丁醇萃取硅铜蓝分光光度法。

作者热孜古丽

机构地区新疆阜康冶炼厂

出处《新疆有色金属》 2003年第S1期69-70,共2页

关键词光度法测定硫酸铝钾正丁醇萃取吸光度放置时间分光杂多酸微量硅氯化亚锡测定结果

分类号 TG115.3 [金属学及工艺—物理冶金]

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新疆有色金属

2003年第S1期

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