SiO_2点阵参数精确测量

Precision measurement of lattice parameters of SiO_2

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摘要本文介绍了点阵参数精确测量的用途,具体方法,并用实例加以说明。 The paper describes the uses of precision measurement of lattice parameters, its methods and make an example for it.

作者吴万国陈之荣黄清明

机构地区福州大学

出处《福建分析测试》 CAS 2002年第1期1526-1527,共2页 Fujian Analysis & Testing

关键词 X射线内标法点阵参数 X-ray Internal standard method method Lattice parameters

分类号 TB9 [机械工程—测试计量技术及仪器]

作者简介吴万国(1945-),男,高级实验师,从事应用原理、X射线粉末衍射的研究.

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