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IPM模块抗ESD能力研究

Study on the ESD resistance of IPM
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摘要 为研究IPM ESD失效的原因,提出解决ESD问题的办法,遂进行了ESD回路理论分析及实验验证。由于驱动IC内部有ESD二极管结构,会导致在IPM某两个引脚上打ESD时,ESD电压通过驱动IC内部的ESD二极管传输到IGBT的栅极上,导致IPM ESD失效。 In order to study the reason of IPM ESD failure and put forward the method to solve the ESD problem,the theoretical analysis and experimental verification of ESD loop are carried out.Because there is an ESD diode structure inside the driving IC,it will cause ESD voltage to be transmitted to the gate of IGBT through the ESD diode inside the driving IC when ESD is applied on one or two pins of IPM,resulting in IPM ESD failure.
作者 冯宇翔 FENG Yuxiang(Guangdong Midea Refrigeration Equipment Co.,Ltd.,Shunde 528311)
机构地区 广东美的制冷设备有限公司
出处 《家电科技》 2020年第4期85-87,共3页 Journal of Appliance Science & Technology
关键词 静电 智能功率模块 IGBT Static electricity Intelligient power module IGBT
分类号 TN322.8 [电子电信—物理电子学] O441.1 [理学—电磁学]
作者简介 冯宇翔,fengyx@midea.com
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参考文献3

二级参考文献15

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共引文献8

家电科技
2020年 第4期

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