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高分数据辅助下的热红外遥感影像几何校正 被引量:1

Geometric Correction of Thermal Infrared Remote Sensing Image Assisted by High-Resolution Data
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摘要 随着热红外遥感技术的不断发展,热红外遥感影像在地表温度反演、森林火灾监测、矿物探测等方面应用广泛,而在这些应用中,热红外影像的几何校正是重要的基础性技术。利用高分二号卫星空间分辨率高的优势,通过研究分析异构载荷的成像差异与关联,提出了一种模拟影像与特征匹配相结合的方法。该方法立足高分辨率光学影像,以地面辐射基础数据为条件,首先从热红外辐射角度进行影像模拟形成过渡影像,并将其用于辅助热红外影像几何校正;然后利用尺度不变特征变换(scale invariant feature transform,SIFT)算子实现特征点的检测,从而获取同名点,提高热红外影像的几何校正精度。 With the development of thermal infrared remote sensing technology,the thermal infrared remote sensing image has an extremely vital significance in land surface temperature inversion,forest fire monitoring,mineral detection and other field,and in these applications,the geometric correction is an important basic technology.We use the advantage of the high-resolution satellite,study the differences and correlation of different remote sensing sensors,and introduce a method of combining simulation images with feature matching.The method based on high resolution optical image,according to the radiation transfer equations of thermal infrared,it use the ground radiation data to simulate the thermal infrared image.Then we can use the simulation image to assist the geometric correction of the thermal infrared image.After simulate the image,we use the scale invariant feature transform(SIFT)feature detection algorithm to find the homonymous points,and then finish the geometric correction of thermal infrared image.Experiment results show that this method makes the geometric correction of thermal infrared remote sensing image with high precision.
作者 许凯秋 龚龑 方圣辉 汪韬阳 XU Kaiqiu;GONG Yan;FANG Shenghui;WANG Taoyang(School of Remote Sensing and Information Engineering,Wuhan University,Wuhan 430079,China;Hubei High Resolution to the Earth Observation System of Data and Application Center,Wuhan 430079,China)
出处 《武汉大学学报(信息科学版)》 EI CSCD 北大核心 2020年第3期426-431,共6页 Geomatics and Information Science of Wuhan University
基金 国家自然科学基金(41771381,41501503) 国家高技术研究发展计划(2013AA102401).
关键词 热红外影像 几何校正 模拟影像 尺度不变特征变换(SIFT) thermal infrared image geometric correction simulation image scale invariant feature transform(SIFT)
作者简介 第一作者:许凯秋,硕士生,研究方向为高分辨率影像分析。kqxu@whu.edu.cn;通讯作者:龚龑,博士,教授。gongyan@whu.edu.cn
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