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题名基于Xeon Phi平台的波动方程叠前深度偏移
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作者
杨祥森
金君
王鹏
马召贵
亢永敢
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机构
中国石化石油物探技术研究院
intel亚太研发有限公司
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出处
《计算机工程与科学》
CSCD
北大核心
2015年第5期907-913,共7页
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文摘
波动方程叠前深度偏移适用于强横向变速介质,是一种高精度成像方法,但其巨大的计算量阻碍了该技术的应用。Xeon Phi是一种全新的高性能计算设备,为波动方程叠前深度偏移方法的推广应用提供了新的技术支持。以裂步傅里叶算子为例,介绍了面向Xeon Phi平台的偏移算法移植和优化方法,即采用offload模式将计算核函数加载到Xeon Phi设备上,在Xeon Phi协处理器上采用多线程方式,并且调整程序结构,充分利用SIMD矢量引擎提高向量化处理效率。扩展负载动态均衡的并行框架,形成了一套适用于大规模异构系统、基于Xeon Phi平台的波动方程叠前深度偏移软件。实际数据测试表明Xeon Phi平台可以极大地提高地震偏移处理效率,具有良好的可扩展性。
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关键词
XEON
Phi平台
波动方程叠前深度偏移
裂步傅里叶算子
并行框架
offload模式
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Keywords
Xeon Phi platform
wave equation prestack depth migration
split step Fourier algorithm
parallel processing framework
offload pattern
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分类号
TP393
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名面向新一代固件接口标准的固件模糊测试系统
被引量：1
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作者
马佳敏
潘理
姚颉文
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机构
上海交通大学电子信息与电气工程学院电子工程系
intel亚太研发有限公司
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出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
2014年第7期277-280,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目(60903191)
上海市自然科学基金资助项目(11ZR1418500)
上海市优秀技术带头人计划基金资助项目(13XD1425100)
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文摘
针对当前统一可扩展固件接口(UEFI)固件漏洞大幅增多,且缺乏高效漏洞检测系统的问题,提出面向UEFI固件的模糊测试系统,采用模糊测试技术检测固件漏洞。该系统复用了原UEFI下自我认证测试系统的测试框架,同时使用专门的子系统生成高针对性的测试数据,并基于UEFI固件的驱动-协议模型为测试用例提供统一的编程接口。以一个UEFI下实际的固件安全漏洞为例,揭示该系统检测固件安全漏洞的能力。实验结果表明,该模糊测试系统不仅可以简化测试用例的开发,而且编写的测试用例比自我认证测试系统提升了15%的代码覆盖率,能有效应用于UEFI固件深层、高危安全漏洞的检测。
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关键词
统一可扩展固件接口
模糊测试
固件
代码覆盖率
漏洞检测
基本输入输出系统
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Keywords
Unified Extensible Firmware Interface（UEFI）
fuzzy test
firmware
code coverage rate
vulnerability detection
Basic InputOutput System（BIOS）
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分类号
TP311
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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