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基于Viterbi的低功耗确定性测试方案
被引量：
2
1
作者
陈田
易鑫
+4 位作者
郑浏旸
王伟
梁华国
任福继
刘军
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第5期821-829,共9页
随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻...
随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%.
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关键词
低功耗测试
测试数据压缩
分段相容编码
VITERBI算法
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职称材料
题名
基于Viterbi的低功耗确定性测试方案
被引量：
2
1
作者
陈田
易鑫
郑浏旸
王伟
梁华国
任福继
刘军
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
department of information science & intelligent systems
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第5期821-829,共9页
基金
国家自然科学基金(61204046
61474035
+2 种基金
61306049)
国家自然科学基金重点项目(61432004)
高等学校博士学科点专项科研新教师基金(2013JYXJ0650)
文摘
随着集成电路制造技术的不断发展,芯片测试已经成为一个令人关注的热点.针对集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题,提出一种基于Viterbi的低功耗测试压缩方案.首先利用测试立方的X位做低功耗填充来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以增加测试立方中的X位为目标进行分段相容编码,将填充后的大量确定位重新编码为X位,从而提高Viterbi压缩中种子的编码效率;最后利用Viterbi算法压缩编码后的测试立方集.整体方案以分段相容编码思想为基础,建立了一个协同解决测试压缩和测试功耗问题的测试流程.实验结果表明,文中方案不仅能取得较好的测试数据压缩率,减少测试存储量,而且能够有效地降低测试功耗,平均功耗降低53.3%.
关键词
低功耗测试
测试数据压缩
分段相容编码
VITERBI算法
Keywords
low power test
test data compression
block compatible encoding
Viterbi algorithm
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于Viterbi的低功耗确定性测试方案
陈田
易鑫
郑浏旸
王伟
梁华国
任福继
刘军
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2016
2
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