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通信类SoC测试方案
1
作者
徐勇
魏炜
+2 位作者
川端雅之
小圆祐一
浅见幸司
《中国集成电路》
2003年第46期89-91,共3页
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。在此将介绍基于 ADVANTEST(爱德万测试)SoC 测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术,...
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。在此将介绍基于 ADVANTEST(爱德万测试)SoC 测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术,同时也列举了关于利用这些技术进行测试的例子。
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关键词
SOC
无线通信芯片
测试
系统芯片
测试成本
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题名
通信类SoC测试方案
1
作者
徐勇
魏炜
川端雅之
小圆祐一
浅见幸司
机构
advantest爱德万测试
出处
《中国集成电路》
2003年第46期89-91,共3页
文摘
本文主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。在此将介绍基于 ADVANTEST(爱德万测试)SoC 测试系统上实现的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字转换器(WVFD),以及超高速任意波形发生器(GSAWG)的结构和新近采用的技术,同时也列举了关于利用这些技术进行测试的例子。
关键词
SOC
无线通信芯片
测试
系统芯片
测试成本
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
通信类SoC测试方案
徐勇
魏炜
川端雅之
小圆祐一
浅见幸司
《中国集成电路》
2003
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