采用幅值为20 k A、时间间隔为50 ms的同时序冲击高压5脉冲分别对单片氧化锌压敏电阻元件、2片压敏电压相差10 V、2片压敏电压相同的并联压敏电阻进行冲击试验。试验表明单片压敏电阻难以承受多脉冲的大能量,将幅值为40 k A同样的波形...采用幅值为20 k A、时间间隔为50 ms的同时序冲击高压5脉冲分别对单片氧化锌压敏电阻元件、2片压敏电压相差10 V、2片压敏电压相同的并联压敏电阻进行冲击试验。试验表明单片压敏电阻难以承受多脉冲的大能量,将幅值为40 k A同样的波形施加在2片压敏电阻并联上时,2片压敏电压相同的压敏电阻并联耐受冲击次数是单片情况下的2倍,而压敏电压相差10 V的2片压敏电阻并联的耐受冲击次数甚至比单片少。通过对多脉冲冲击下的压敏电阻片电气参数、温度测试分析以及外观损坏形式分析,认为多脉冲情况下的损坏机理主要以热击穿为主。展开更多
基金国家自然科学基金资助项目(41175003)supported by the National Science Foundation of China(No.51577106)
文摘采用幅值为20 k A、时间间隔为50 ms的同时序冲击高压5脉冲分别对单片氧化锌压敏电阻元件、2片压敏电压相差10 V、2片压敏电压相同的并联压敏电阻进行冲击试验。试验表明单片压敏电阻难以承受多脉冲的大能量,将幅值为40 k A同样的波形施加在2片压敏电阻并联上时,2片压敏电压相同的压敏电阻并联耐受冲击次数是单片情况下的2倍,而压敏电压相差10 V的2片压敏电阻并联的耐受冲击次数甚至比单片少。通过对多脉冲冲击下的压敏电阻片电气参数、温度测试分析以及外观损坏形式分析,认为多脉冲情况下的损坏机理主要以热击穿为主。
