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银掺杂对Bi_2O_3-ZnO-Nb_2O_5系陶瓷介电及熔融物性的影响
被引量：
6
1
作者
魏建中
陈忍昌
+1 位作者
张良莹
姚喜
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期319-323,共5页
在ＢＺＮ系陶瓷中，立方焦绿石结构的α相与低对称结构的β相是二个重要的基本物相，α相是熔点为１１９０℃的同成分熔融化合物，对应负温度系数，β相是转熔温度为１１００℃的异成分熔融化合物，对应正温度系数，α相与β相接一定比...
在ＢＺＮ系陶瓷中，立方焦绿石结构的α相与低对称结构的β相是二个重要的基本物相，α相是熔点为１１９０℃的同成分熔融化合物，对应负温度系数，β相是转熔温度为１１００℃的异成分熔融化合物，对应正温度系数，α相与β相接一定比例组成（α＋β）复相瓷料，得到ＣＨ组零温度系数．分别在α相、β相以及ＣＨ组复相瓷料中进行银掺杂，通过瓷料介电性能的研究，首次明确了银掺杂对α相、β相以及ＣＨ组复相瓷料介电性能的不同影响和影响程度，进一步研究银掺杂β相瓷料的熔融物性，结果表明银掺杂对瓷料熔融物性的影响是影响其介电性能的内因．
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关键词
银掺杂
焦绿石结构
介电性能
溶融物性
陶瓷介质材料
氧化锌
氧化铋
五氧化二铌
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职称材料
微波辅助电感耦合等离子体光谱法进行RoHS限定的重金属检测
被引量：
14
2
作者
华丽
吴懿平
+1 位作者
安兵
赖小伟
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第11期2665-2670,共6页
电子电气产品中有害金属已经引起了人们高度关注。针对RoHS指令的巨大压力,文章展示了微波消解制样,ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱法)测定电气电子产品中Cr,Hg,Pb,Cd的痕量浓度的整个过程,并对该法的精确度、回复率、重现性和干扰...
电子电气产品中有害金属已经引起了人们高度关注。针对RoHS指令的巨大压力,文章展示了微波消解制样,ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱法)测定电气电子产品中Cr,Hg,Pb,Cd的痕量浓度的整个过程,并对该法的精确度、回复率、重现性和干扰问题做了讨论。研究表明,微波消解较之传统制样方法可更快速、无损失、无污染的制备试样。通过对整个工作日不同时间内和不同波长处四种重金属回复率分析,85%～115%的精度范围说明微波消解制样、试样介入系统及ICP检测过程损失和污染较小。重现率实验表明在工作时间内ICP具有较好的稳定性及材质效应较小。采用标准添加技术或内元素校正法可以有效克服Ni,As,Fe等对Cd的干扰,从而解决了原子吸收光谱法分析中棘手的难题。对于背景线漂移或光谱交叠问题采用多波长同时选择和两纠正点方法得以很好地解决。同时,样品、标准溶液和标准添加溶液中的痕量重金属元素分析可达到较小的相对标准偏差(<3%)和较低检出限(3σ<1μg.L-1,n=5),这些说明ICP-OES具有高精度和高可靠性。这为要求符合欧盟环保指令限定范围的电子电气业提供了较好的技术支持。
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关键词
ROHS指令
重金属测定
电感耦合等离子体发射光谱法
微波消解
内元素校正法
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职称材料
题名
银掺杂对Bi_2O_3-ZnO-Nb_2O_5系陶瓷介电及熔融物性的影响
被引量：
6
1
作者
魏建中
陈忍昌
张良莹
姚喜
机构
香港城市大学电子工程系epa中心
西安交通
大学
电子
材料研究所
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期319-323,共5页
基金
国家863计划新材料领域资助项目!(863-715-10-01-04)
文摘
在ＢＺＮ系陶瓷中，立方焦绿石结构的α相与低对称结构的β相是二个重要的基本物相，α相是熔点为１１９０℃的同成分熔融化合物，对应负温度系数，β相是转熔温度为１１００℃的异成分熔融化合物，对应正温度系数，α相与β相接一定比例组成（α＋β）复相瓷料，得到ＣＨ组零温度系数．分别在α相、β相以及ＣＨ组复相瓷料中进行银掺杂，通过瓷料介电性能的研究，首次明确了银掺杂对α相、β相以及ＣＨ组复相瓷料介电性能的不同影响和影响程度，进一步研究银掺杂β相瓷料的熔融物性，结果表明银掺杂对瓷料熔融物性的影响是影响其介电性能的内因．
关键词
银掺杂
焦绿石结构
介电性能
溶融物性
陶瓷介质材料
氧化锌
氧化铋
五氧化二铌
Keywords
Ag-dopant
pyrochlore structure
dielectric properties
melting behaviors
分类号
TM212 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
微波辅助电感耦合等离子体光谱法进行RoHS限定的重金属检测
被引量：
14
2
作者
华丽
吴懿平
安兵
赖小伟
机构
华中科技
大学
材料成形及模具技术国家重点实验室
香港城市大学电子工程系epa中心
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第11期2665-2670,共6页
基金
国家“863”重大项目(2006AA04A110)
国家自然科学基金项目(10474024)
武汉市青年科技晨光计划项目(20065004116-10)资助
文摘
电子电气产品中有害金属已经引起了人们高度关注。针对RoHS指令的巨大压力,文章展示了微波消解制样,ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱法)测定电气电子产品中Cr,Hg,Pb,Cd的痕量浓度的整个过程,并对该法的精确度、回复率、重现性和干扰问题做了讨论。研究表明,微波消解较之传统制样方法可更快速、无损失、无污染的制备试样。通过对整个工作日不同时间内和不同波长处四种重金属回复率分析,85%～115%的精度范围说明微波消解制样、试样介入系统及ICP检测过程损失和污染较小。重现率实验表明在工作时间内ICP具有较好的稳定性及材质效应较小。采用标准添加技术或内元素校正法可以有效克服Ni,As,Fe等对Cd的干扰,从而解决了原子吸收光谱法分析中棘手的难题。对于背景线漂移或光谱交叠问题采用多波长同时选择和两纠正点方法得以很好地解决。同时,样品、标准溶液和标准添加溶液中的痕量重金属元素分析可达到较小的相对标准偏差(<3%)和较低检出限(3σ<1μg.L-1,n=5),这些说明ICP-OES具有高精度和高可靠性。这为要求符合欧盟环保指令限定范围的电子电气业提供了较好的技术支持。
关键词
ROHS指令
重金属测定
电感耦合等离子体发射光谱法
微波消解
内元素校正法
Keywords
RoHS directive,Heavy metal determinations,ICP-OES,Microwave extraction,Inter-element correction method
分类号
O657.3 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
银掺杂对Bi_2O_3-ZnO-Nb_2O_5系陶瓷介电及熔融物性的影响
魏建中
陈忍昌
张良莹
姚喜
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
6
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
微波辅助电感耦合等离子体光谱法进行RoHS限定的重金属检测
华丽
吴懿平
安兵
赖小伟
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
14
在线阅读
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职称材料
已选择
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