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题名影响ESD荷电器件模型放电电流的关键参数研究
被引量：1
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作者
邢洁
王明湘
何健
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机构
苏州大学电子信息学院微电子学系
飞索半导体中国有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第4期349-353,共5页
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基金
国家自然科学基金资助项目(60406001)
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文摘
静电放电峰值电流是基于荷电器件放电模型的放电测试装置中波形验证的关键指标。针对影响放电峰值电流的几个因素:测试探针长度、直径、形状和充电盘绝缘介电层的厚度,研究了这些参数变化对放电峰值电流的影响规律。根据研究结果可调整相应参数,保证荷电器件放电模型的测试装置符合测试标准。基于LRC放电电路的等效模型,实验结果给出了到满意的定量或定性解释。
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关键词
静电放电
荷电器件放电模型
测试探针
LRC模型
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Keywords
electrostatic discharge （ESD）
charged device model （CDM）
pogo-pin
LRC model
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分类号
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名塑封组件可靠性测试中加速浸润方法的研究
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作者
袁华
钱敏
曹云鹏
杨翠军
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机构
飞索半导体中国有限公司
苏州大学电子信息学院微电子系
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第3期277-281,共5页
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文摘
在对塑封集成电路进行封装可靠性评估中,预处理过程是必经的步骤,其中的浸润测试通常在非加速条件下进行,耗时较长。在市场竞争日趋激烈的环境下,企业迫切需要缩短新产品的可靠性验证时间。针对JEDEC(电子器件工程联合委员会)和JEITA(日本电子信息技术协会)标准中涉及到的三种加速浸润条件,以组件在非加速条件下(JEDECLevel3和JEITARankE)潮气的穿透力、吸收量及由此产生的失效为参照,确定在加速条件下,组件达到同样的潮气吸收量并产生相类似的失效所需的时间;同时应用有限元分析的方法进行建模和计算,并与实际的测量结果比较验证。
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关键词
可靠性
预处理
浸润
有限元分析
分层失效
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Keywords
reliability
precondition
soak
finite element analysis （FEA）
delamination
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
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