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原位增韧SiC-YAG复相陶瓷的致密化
被引量：
11
1
作者
黄政仁
谭寿洪
+1 位作者
江东亮
赵诚宰
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第5期726-732,共7页
以β-ＳｉＣ粉加入少量作为晶种的α-ＳｉＣ为起始原料，通过高温热处理过程中的相变和长柱状晶粒生长来制备原位增韧ＳｉＣ基复相陶瓷；调整埋烧工艺控制高温热处理过程中液相挥发和保持稳定的化学计量比，以保证液相全部晶化为ＹＡＧ...
以β-ＳｉＣ粉加入少量作为晶种的α-ＳｉＣ为起始原料，通过高温热处理过程中的相变和长柱状晶粒生长来制备原位增韧ＳｉＣ基复相陶瓷；调整埋烧工艺控制高温热处理过程中液相挥发和保持稳定的化学计量比，以保证液相全部晶化为ＹＡＧ相，着重解决了长柱状晶粒生长过程中的致密化．发现在完全形成紧密的网络状结构之前，长柱状晶粒的形成可能延缓致密化速率，但不会由此中止致密化过程．通过调整热处理条件，制备得到了完全致密化（＞９９％理论密度）并具有优异断裂韧性（Ｋ１ｃ＝６．９ＭＰａｍ１／２，ＳＥＰＢ法）的原位增韧ＳｉＣ－ＹＡＧ复相陶瓷．
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关键词
原位增韧
液相烧结
碳化硅
YAG
复合陶瓷
致密化
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职称材料
纳米尺度HfO_2薄膜的光谱椭偏模型建立
被引量：
2
2
作者
张寅辉
任玲玲
+5 位作者
高慧芳
贾亚斌
Fu Weien
刘小萍
Kim Changsoo
Yasushi Azuma
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017年第5期548-552,共5页
为了建立厚度为1 nm左右HfO_2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO_2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO_2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数...
为了建立厚度为1 nm左右HfO_2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO_2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO_2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数,最后确定了拟合色散模型为Tauc-Lorentz 3,拟合光谱范围为3.45~4.35 eV,表面污染层孔隙比例为60:40。
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关键词
计量学
HfO2超薄膜
纳米尺度
光谱椭偏模型
掠入射X射线反射技术
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职称材料
题名
原位增韧SiC-YAG复相陶瓷的致密化
被引量：
11
1
作者
黄政仁
谭寿洪
江东亮
赵诚宰
机构
中国
科学
院上海硅酸盐
研究
所
韩国标准科学研究院
出处
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第5期726-732,共7页
文摘
以β-ＳｉＣ粉加入少量作为晶种的α-ＳｉＣ为起始原料，通过高温热处理过程中的相变和长柱状晶粒生长来制备原位增韧ＳｉＣ基复相陶瓷；调整埋烧工艺控制高温热处理过程中液相挥发和保持稳定的化学计量比，以保证液相全部晶化为ＹＡＧ相，着重解决了长柱状晶粒生长过程中的致密化．发现在完全形成紧密的网络状结构之前，长柱状晶粒的形成可能延缓致密化速率，但不会由此中止致密化过程．通过调整热处理条件，制备得到了完全致密化（＞９９％理论密度）并具有优异断裂韧性（Ｋ１ｃ＝６．９ＭＰａｍ１／２，ＳＥＰＢ法）的原位增韧ＳｉＣ－ＹＡＧ复相陶瓷．
关键词
原位增韧
液相烧结
碳化硅
YAG
复合陶瓷
致密化
Keywords
in-situ toughening, liquid phase sintering, Silicon Carbide, YAG
分类号
TQ174.758 [化学工程—陶瓷工业]
TQ174.1 [化学工程—陶瓷工业]
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职称材料
题名
纳米尺度HfO_2薄膜的光谱椭偏模型建立
被引量：
2
2
作者
张寅辉
任玲玲
高慧芳
贾亚斌
Fu Weien
刘小萍
Kim Changsoo
Yasushi Azuma
机构
太原理工大学
中国计量
科学研究院
工业技术
研究院
韩国标准科学研究院
日本国家计量
研究院
出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017年第5期548-552,共5页
基金
国家质量基础的共性技术研究与应用重点专项基金(2016YFF0204300)
国家重点研发计划纳米科技重点专项(2016YFA0200901)
文摘
为了建立厚度为1 nm左右HfO_2超薄膜的光谱椭偏测量方法,采用掠入射X射线反射技术进行国家/地区实验室间比对认证,其膜厚准确量值作为参比值,建立了HfO_2超薄膜的光谱椭偏结构拟合模型。研究了HfO_2超薄膜的光谱椭偏色散模型和拟合参数,最后确定了拟合色散模型为Tauc-Lorentz 3,拟合光谱范围为3.45~4.35 eV,表面污染层孔隙比例为60:40。
关键词
计量学
HfO2超薄膜
纳米尺度
光谱椭偏模型
掠入射X射线反射技术
Keywords
metrology
ultrathin HfO2 film
nanoscale
spectroscopic ellipsometry model
grazing incidence X-ray reflection method
分类号
TB921 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
原位增韧SiC-YAG复相陶瓷的致密化
黄政仁
谭寿洪
江东亮
赵诚宰
《无机材料学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
11
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职称材料
2
纳米尺度HfO_2薄膜的光谱椭偏模型建立
张寅辉
任玲玲
高慧芳
贾亚斌
Fu Weien
刘小萍
Kim Changsoo
Yasushi Azuma
《计量学报》
CSCD
北大核心
2017
2
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职称材料
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