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X射线荧光光谱法测定耐指纹板有机涂层中二氧化硅
被引量：
5
1
作者
曲月华
王一凌
+3 位作者
邓军华
亢德华
张鹏
王翠艳
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第10期1205-1206,1210,共3页
应用X射线荧光光谱法测定了耐指纹板有机涂层中二氧化硅的含量。在所用的校准样品和测试样品的基板成分相同和所用的有机涂层属同类的前提下,可采用经验系数法进行校正。应用此方法对已知二氧化硅含量的耐指纹板样品(二氧化硅量为76.65 ...
应用X射线荧光光谱法测定了耐指纹板有机涂层中二氧化硅的含量。在所用的校准样品和测试样品的基板成分相同和所用的有机涂层属同类的前提下,可采用经验系数法进行校正。应用此方法对已知二氧化硅含量的耐指纹板样品(二氧化硅量为76.65 mg.m-2)进行12次测定,测得二氧化硅含量的平均值为76.66 mg.m-2,其相对标准偏差为0.087%。
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关键词
X射线荧光光谱法
耐指纹板
二氧化硅
有机涂层
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职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定耐指纹板有机涂层中二氧化硅
被引量：
5
1
作者
曲月华
王一凌
邓军华
亢德华
张鹏
王翠艳
机构
鞍钢
股份
有限公司技术
中心
鞍钢股份质检中心
鞍山师范学院
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第10期1205-1206,1210,共3页
文摘
应用X射线荧光光谱法测定了耐指纹板有机涂层中二氧化硅的含量。在所用的校准样品和测试样品的基板成分相同和所用的有机涂层属同类的前提下,可采用经验系数法进行校正。应用此方法对已知二氧化硅含量的耐指纹板样品(二氧化硅量为76.65 mg.m-2)进行12次测定,测得二氧化硅含量的平均值为76.66 mg.m-2,其相对标准偏差为0.087%。
关键词
X射线荧光光谱法
耐指纹板
二氧化硅
有机涂层
Keywords
XRFS
Fingerprint proof board
SiO2
Organic coating
分类号
O657.31 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线荧光光谱法测定耐指纹板有机涂层中二氧化硅
曲月华
王一凌
邓军华
亢德华
张鹏
王翠艳
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2010
5
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