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基于AFM的振幅曲线研究探针一样品间的相互作用
被引量：
1
1
作者
王艳霞
李艳宁
+2 位作者
傅星
李正光
胡小唐
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z1期216-218,221,共4页
在原子力显微镜 (Atomic Force Microscope,AFM)的拍击工作模式 (Tapping Mode)下 ,探针的振幅受探针—样品间作用力的影响。该作用力与两者的间距密切相关 ,以探针—样品间作用力的平衡位置为界 ,将探针—样品间距划分为引力作用区域...
在原子力显微镜 (Atomic Force Microscope,AFM)的拍击工作模式 (Tapping Mode)下 ,探针的振幅受探针—样品间作用力的影响。该作用力与两者的间距密切相关 ,以探针—样品间作用力的平衡位置为界 ,将探针—样品间距划分为引力作用区域和斥力作用区域。本文中通过实验得到了探针的振幅随探针—样品间距变化的关系曲线——振幅曲线 ,详细讨论了振幅曲线与探针—样品间作用力的关系 ;并通过计算机模拟验证了振幅随探针—样品间距的变化关系。结果表明研究软样品时应该尽可能选取引力作用区域 。
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关键词
振动曲线
探针-样品作用
拍击模式
原子力显微术
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职称材料
题名
基于AFM的振幅曲线研究探针一样品间的相互作用
被引量：
1
1
作者
王艳霞
李艳宁
傅星
李正光
胡小唐
机构
天津
大学
精密测试技术及仪器国家重点实验室
青岛科技大学信息控制与工程学院青岛
青岛
热电公司
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第z1期216-218,221,共4页
基金
留学回国人员科研启动基金资助项目
文摘
在原子力显微镜 (Atomic Force Microscope,AFM)的拍击工作模式 (Tapping Mode)下 ,探针的振幅受探针—样品间作用力的影响。该作用力与两者的间距密切相关 ,以探针—样品间作用力的平衡位置为界 ,将探针—样品间距划分为引力作用区域和斥力作用区域。本文中通过实验得到了探针的振幅随探针—样品间距变化的关系曲线——振幅曲线 ,详细讨论了振幅曲线与探针—样品间作用力的关系 ;并通过计算机模拟验证了振幅随探针—样品间距的变化关系。结果表明研究软样品时应该尽可能选取引力作用区域 。
关键词
振动曲线
探针-样品作用
拍击模式
原子力显微术
Keywords
Amplitude curves Tip sample interaction Tapping mode Atomic force microscopy
分类号
TH7 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于AFM的振幅曲线研究探针一样品间的相互作用
王艳霞
李艳宁
傅星
李正光
胡小唐
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
1
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