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基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
1
作者
黄姣英
何明瑞
+2 位作者
袁伟
高成
王乐群
《电子测量技术》
北大核心
2022年第13期65-70,共6页
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入...
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入方法开展单粒子效应模拟实验。NOR Flash存储器单粒子效应测试系统包括FPGA控制逻辑、Flash检测板和上位机软件三部分。结果表明,单粒子翻转、单粒子闭锁和单粒子功能中断3种单粒子效应的软件故障注入方法均通过NOR Flash存储器单粒子效应测试系统得到验证。本文的研究可以为相关单粒子效应模拟提供参考,为分析存储器单粒子效应对电子系统的可靠性影响打下基础。
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关键词
NOR
Flash
单粒子效应
故障注入
测试系统
模拟方法
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职称材料
题名
基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
1
作者
黄姣英
何明瑞
袁伟
高成
王乐群
机构
北京
航空航天大学可靠性与系统工程学院
陆军装备部驻北京地区第四军事代表室
出处
《电子测量技术》
北大核心
2022年第13期65-70,共6页
基金
国家国防科技工业局技术基础科研项目(JSZL2016601B007)资助。
文摘
针对目前大容量NOR Flash存储器单粒子效应模拟缺乏具体操作方法的问题,本文提出NOR Flash单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闭锁3种单粒子效应对应软件故障注入方法,设计适用于大容量器件的板级测试系统并进行功能验证,通过故障注入方法开展单粒子效应模拟实验。NOR Flash存储器单粒子效应测试系统包括FPGA控制逻辑、Flash检测板和上位机软件三部分。结果表明,单粒子翻转、单粒子闭锁和单粒子功能中断3种单粒子效应的软件故障注入方法均通过NOR Flash存储器单粒子效应测试系统得到验证。本文的研究可以为相关单粒子效应模拟提供参考,为分析存储器单粒子效应对电子系统的可靠性影响打下基础。
关键词
NOR
Flash
单粒子效应
故障注入
测试系统
模拟方法
Keywords
NOR Flash
single particle effect
fault injection
test system
simulation method
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于故障注入的NOR Flash单粒子效应模拟方法研究
黄姣英
何明瑞
袁伟
高成
王乐群
《电子测量技术》
北大核心
2022
0
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