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国产无源效率刻度软件在HPGe γ谱仪上应用及评价 被引量:4
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作者 孙健 姜文华 +2 位作者 王百荣 来永芳 郑启燕 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2015年第8期797-800,共4页
介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果... 介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比。比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08%-5.64%,体源效率刻度上两者偏差为3.95%-16.94%,均在可接受的范围内。实验表明:该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具。 展开更多
关键词 GC软件 无源效率刻度 评价
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