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光谱分析用块状标准物质均匀性检验试验方案研究 被引量:10
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作者 柯瑞华 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期114-118,共5页
通过各种试验方案的比较研究 ,提出了比较科学合理的均匀性试验方案 ,以保证光谱分析块状标准物质均匀性检验测试数据的可靠性、科学性。
关键词 标准物质 光谱分析 均匀性检验
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化学分析测量结果不确定度评定中若干问题的论述 被引量:39
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作者 柯瑞华 胡晓燕 《中国标准化》 2006年第4期19-23,共5页
关键词 测量结果不确定度 化学分析 定中 不确定度评定 国际贸易 科学技术 测量范围 测量工作 国民经济 推荐使用
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论测量不确定度 被引量:32
3
作者 胡晓燕 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第8期406-409,共4页
讨论了测量不确定度的基本概念及应用。分析了误差和不确定度两个概念的区别 。
关键词 测量不确定度 测量误差 计量学 标准物质 标准不确定度
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Ca_(0.9)Sr_(0.1)S∶Bi^(3+),Tm^(3+)荧光材料的光学性质 被引量:2
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作者 贾冬冬 吴伯群 +1 位作者 姜联合 朱静 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第1期43-47,共5页
Ca0 .9Sr0 .1S∶ Bi3 + ,Tm3 +是一种复合掺杂复合基质荧光材料。在此给出了 4 40 nm和 52 0 nm发射的激发谱 ,2 50 nm到 3 50 nm的激发的发射谱 ,以及 4 0 0 nm到 52 0 nm的荧光衰减谱。紫外光区域的激发谱表明 ,Ca0 .9Sr0 .1S∶ Bi3 +... Ca0 .9Sr0 .1S∶ Bi3 + ,Tm3 +是一种复合掺杂复合基质荧光材料。在此给出了 4 40 nm和 52 0 nm发射的激发谱 ,2 50 nm到 3 50 nm的激发的发射谱 ,以及 4 0 0 nm到 52 0 nm的荧光衰减谱。紫外光区域的激发谱表明 ,Ca0 .9Sr0 .1S∶ Bi3 + ,Tm3 + 有两个主要的能量传递体系 ,3 2 5nm的复合掺杂中心 Tm3 + 的 CT跃迁激发体系 ,和Bi3 + 的自身激发体系。紫外激发的荧光发射谱的中心发射波长在 4 53 nm处。在电子和空穴陷阱同时存在时 ,It=I0 [( 1 +γet) ( 1 +γht) ]-n,对于 Ca0 .9Sr0 .1S∶Bi3 + ,Tm3 +材料 γh=0 .0 1 68,γe=0 .0 0 0 1 ,n=1 .1。Tm3 +的电子陷阱深度约为 0 .5e V,比复合基质中的正离子空位的空穴陷阱要深。考虑复合基质材料的线性关系 ,电子陷阱的深度可表示为 De=βe-αx;空穴陷阱的深度可表示为 Dh=( βhc-αhx) x+( βhs-αhx) ( 1 -x)。 展开更多
关键词 荧光粉 复合基质 复合掺杂 光学性质
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稀土镁铸铁光谱分析用标准物质的研制 被引量:2
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作者 胡晓燕 柯瑞华 《化学分析计量》 CAS 1999年第4期1-3,共3页
对稀土镁铸铁光谱分析用标准物质的制备、分析定值及应用进行了系统研究。研制了我国第一套稀土镁铸铁光谱分析用标准物质,确定了14个项目的标准定值,该系列标准物质有良好的均匀性,其化学成分呈梯度分布,线性关系良好。
关键词 稀土镁铸铁 标准物质 光谱分析 制备 冶炼工艺 浇铸工艺 分析定值
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中国加入世界贸易组织后在国际贸易中检测标准受到的冲击
6
作者 杨国荣 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2006年第10期873-875,共3页
文中对检测标准在产品质量控制中的重要作用,特别是在我国加入世界贸易组织(WTO)后和国际贸易日益增长的情况下,检测标准所受到的冲击作了清楚的论述。以我国的钢铁行业为例,对检测标准在改革前后的状况进行了回顾。在分析了我国加入WT... 文中对检测标准在产品质量控制中的重要作用,特别是在我国加入世界贸易组织(WTO)后和国际贸易日益增长的情况下,检测标准所受到的冲击作了清楚的论述。以我国的钢铁行业为例,对检测标准在改革前后的状况进行了回顾。在分析了我国加入WTO后的形势,作者认为随着国际贸易的不断快速增长,发达国家设置技术性贸易壁垒是必然趋势。这种趋势给检测标准行业带来挑战也带来机遇,还提出了检测标准行业今后的发展策略。 展开更多
关键词 检测标准 冲击 发展策略
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