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指数型元件的贮存可靠性的置信限 被引量:3
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作者 吴和成 《工程数学学报》 CSCD 北大核心 1999年第4期80-84,共5页
基于元件的定期检测数据,不确定数据,通过把各检测时刻的元件的试验数据,折合成t时刻下元件的伪试验数据来确定元件的贮存可靠性的置信限。给出的数字例并进行了模拟计算,证实新方法效果偏好,操作方便。
关键词 可靠性 置信下限 指数型元件 贮存可靠性
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