为实现YOLO(you only look once)模型的超参数自动优化,提出基于正交优化策略的YOLO模型超参数优化方法(hyper-parameter optimization of YOLO model based on orthogonal optimization strategy,OOS)。首先基于统计学的正交试验原理,...为实现YOLO(you only look once)模型的超参数自动优化,提出基于正交优化策略的YOLO模型超参数优化方法(hyper-parameter optimization of YOLO model based on orthogonal optimization strategy,OOS)。首先基于统计学的正交试验原理,提出了种群的正交搜索方法与超参数贡献度分析策略,提高了算法的优化效率;然后,设计了均匀正交搜索策略和邻域正交搜索策略,以缓解YOLO模型陷入局部最优和早熟收敛问题。最后,在NWPU VHR-10和Pascal VOC两个目标检测数据集上,以YOLOv5、YOLOv5s-Transformer和YOLOv7为优化对象进行测试,测试结果表明,所提出的OOS超参数优化方法对于YOLO模型的识别精度均有所提升。在两个数据集上的平均识别精度mAP@0.5分别提升至93.94%、93.18%、93.45%以及85.81%、84.59%、90.62%;mAP@0.5-0.95提升至60.00%、60.08%、56.98%以及62.27%、58.89%、71.91%,可为目标检测模型的超参数智能优化提供一种新方法。展开更多
为满足智能制造企业对产品质量检测的需求,服务制造企业生产管理,对缺陷检测技术的研究现状、典型方法和应用进行梳理.首先总结了磁粉检测法、渗透检测法、涡流检测法、超声波检测法、机器视觉和基于深度学习的缺陷检测技术的优缺点;对...为满足智能制造企业对产品质量检测的需求,服务制造企业生产管理,对缺陷检测技术的研究现状、典型方法和应用进行梳理.首先总结了磁粉检测法、渗透检测法、涡流检测法、超声波检测法、机器视觉和基于深度学习的缺陷检测技术的优缺点;对比分析了磁粉检测法、渗透检测法、涡流检测法、超声波检测法、机器视觉检测的主流缺陷检测技术和基于深度学习的缺陷检测技术的研究现状;然后,梳理了缺陷检测技术在电子元器件、管道、焊接件、机械零件和质量控制中的典型应用;最后,对缺陷检测技术的研究情况进行了总结和展望,指出该研究领域亟需解决的问题和未来发展的方向,并从高精度、高定位、快速检测、小目标、复杂背景、被遮挡物体检测、物体关联关系等几个方面总结近年来发表在ICCV(International Conference on Computer Vision)和CVPR(International Conference on Computer Vision and Pattern Recognition)等知名国际会议上相关论文的核心思想和源代码,为缺陷检测技术的进一步发展提供理论和应用上的借鉴与参考.展开更多
文摘为实现YOLO(you only look once)模型的超参数自动优化,提出基于正交优化策略的YOLO模型超参数优化方法(hyper-parameter optimization of YOLO model based on orthogonal optimization strategy,OOS)。首先基于统计学的正交试验原理,提出了种群的正交搜索方法与超参数贡献度分析策略,提高了算法的优化效率;然后,设计了均匀正交搜索策略和邻域正交搜索策略,以缓解YOLO模型陷入局部最优和早熟收敛问题。最后,在NWPU VHR-10和Pascal VOC两个目标检测数据集上,以YOLOv5、YOLOv5s-Transformer和YOLOv7为优化对象进行测试,测试结果表明,所提出的OOS超参数优化方法对于YOLO模型的识别精度均有所提升。在两个数据集上的平均识别精度mAP@0.5分别提升至93.94%、93.18%、93.45%以及85.81%、84.59%、90.62%;mAP@0.5-0.95提升至60.00%、60.08%、56.98%以及62.27%、58.89%、71.91%,可为目标检测模型的超参数智能优化提供一种新方法。
文摘为满足智能制造企业对产品质量检测的需求,服务制造企业生产管理,对缺陷检测技术的研究现状、典型方法和应用进行梳理.首先总结了磁粉检测法、渗透检测法、涡流检测法、超声波检测法、机器视觉和基于深度学习的缺陷检测技术的优缺点;对比分析了磁粉检测法、渗透检测法、涡流检测法、超声波检测法、机器视觉检测的主流缺陷检测技术和基于深度学习的缺陷检测技术的研究现状;然后,梳理了缺陷检测技术在电子元器件、管道、焊接件、机械零件和质量控制中的典型应用;最后,对缺陷检测技术的研究情况进行了总结和展望,指出该研究领域亟需解决的问题和未来发展的方向,并从高精度、高定位、快速检测、小目标、复杂背景、被遮挡物体检测、物体关联关系等几个方面总结近年来发表在ICCV(International Conference on Computer Vision)和CVPR(International Conference on Computer Vision and Pattern Recognition)等知名国际会议上相关论文的核心思想和源代码,为缺陷检测技术的进一步发展提供理论和应用上的借鉴与参考.
