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表面形变精密测试方法的研究
被引量:
1
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作者
杨永正
杨军
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第4期188-189,共2页
本文在试样的表面制作出等间隔的平行线,作为反射式光栅,在激光束的照射下形成一列线阵分布的衍射光斑,并用线阵电荷耦合器件等组成的系统,测试衍射光斑间距及其变化量,从而高精度(μm量级)的为材料表面形变、应变等的测试,开...
本文在试样的表面制作出等间隔的平行线,作为反射式光栅,在激光束的照射下形成一列线阵分布的衍射光斑,并用线阵电荷耦合器件等组成的系统,测试衍射光斑间距及其变化量,从而高精度(μm量级)的为材料表面形变、应变等的测试,开发了一种具有近代光学测量的新技术。
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关键词
表面光栅
衍射光斑
形变
精密测试
光学测量
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职称材料
材料表面形变应变场的光电检测新途径
2
作者
杨永正
杨军
《光电工程》
CAS
CSCD
1997年第3期33-36,共4页
目前为了高精度地测量材料表面形变、应变场,正致力于完善在试件表面刻蚀1,000-10,000线/mm的正交网络技术,这是件难度很大的具有一定限度的新技术,当刻线比线距宽时,由于使用效果不佳而失去意义。本文避免了在试件...
目前为了高精度地测量材料表面形变、应变场,正致力于完善在试件表面刻蚀1,000-10,000线/mm的正交网络技术,这是件难度很大的具有一定限度的新技术,当刻线比线距宽时,由于使用效果不佳而失去意义。本文避免了在试件表面制作这种高密集刻线的困难,用了在试件表面制作10-100线/mm表面光栅的新方法,把栅距d及其变化量Δd的测量、转换、放大成为衍射光斑间距L及其变化量ΔL的测量,再经光信息采集,与数据处理的硬件、软件系统,把mm量级形变的测量提高到μm量级的测量精度,发展了高精度(微米量级)、快速(微秒量级)、自动地获得与处理表面形变、应变场等表面特征量的新途径。
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关键词
变形测量
应变测量
材料缺陷
表面缺陷
光电测量
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职称材料
题名
表面形变精密测试方法的研究
被引量:
1
1
作者
杨永正
杨军
机构
西北工业大学应用物理系
出处
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第4期188-189,共2页
基金
国家自然科学基金
航空科学基金
文摘
本文在试样的表面制作出等间隔的平行线,作为反射式光栅,在激光束的照射下形成一列线阵分布的衍射光斑,并用线阵电荷耦合器件等组成的系统,测试衍射光斑间距及其变化量,从而高精度(μm量级)的为材料表面形变、应变等的测试,开发了一种具有近代光学测量的新技术。
关键词
表面光栅
衍射光斑
形变
精密测试
光学测量
Keywords
Surface grating, diffraction pattern, deformation
分类号
TH741.6 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
材料表面形变应变场的光电检测新途径
2
作者
杨永正
杨军
机构
西北工业大学应用物理系
西安达力仪表研究所
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
1997年第3期33-36,共4页
基金
国家自然科学基金
航空科学基金
文摘
目前为了高精度地测量材料表面形变、应变场,正致力于完善在试件表面刻蚀1,000-10,000线/mm的正交网络技术,这是件难度很大的具有一定限度的新技术,当刻线比线距宽时,由于使用效果不佳而失去意义。本文避免了在试件表面制作这种高密集刻线的困难,用了在试件表面制作10-100线/mm表面光栅的新方法,把栅距d及其变化量Δd的测量、转换、放大成为衍射光斑间距L及其变化量ΔL的测量,再经光信息采集,与数据处理的硬件、软件系统,把mm量级形变的测量提高到μm量级的测量精度,发展了高精度(微米量级)、快速(微秒量级)、自动地获得与处理表面形变、应变场等表面特征量的新途径。
关键词
变形测量
应变测量
材料缺陷
表面缺陷
光电测量
Keywords
Holographic optical elements,Computer generated holograms,Transverse modes,light diffraction,Phase gratings.
分类号
TB303 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
表面形变精密测试方法的研究
杨永正
杨军
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996
1
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职称材料
2
材料表面形变应变场的光电检测新途径
杨永正
杨军
《光电工程》
CAS
CSCD
1997
0
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职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
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