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多层瓷介电容器的声学扫描检查分析: 1; 作者聂延伟《集成电路应用》 2024年第8期28-29,共2页; 阐述声学扫描检查(SAM)瓷介电容器内部缺陷的可行性,探讨多层瓷介电容器声学扫描检查研究目的及价值。介绍多层瓷介电容器内部空洞、分层及裂纹等缺陷的检测方法,并对结果进行验证。; 关键词多层瓷介电容器内部缺陷声学扫描检查; 在线阅读下载PDF 职称材料

8087协处理器测试程序开发: 2; 作者尹轩王煜《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2002年第10期32-34,共3页; 文章介绍了如何根据8087协处理器的指令系统编写8087的测试图型,进而开出其测试程序。; 关键词 8087协处理器指令系统测试图型测试程序程序开发; 在线阅读下载PDF 职称材料

IC测试业方兴未艾: 3; 作者王煜《现代电子技术》 2004年第23期i002-i002,共1页; 西安西谷微电子有限责任公司成立于2000年12月，专业从事集成电路测试、筛选、测试软硬件开发及相关技术配套服务，是国家集成电路设计西安产业化基地测试分析平台的依托实体。; 关键词 IC测试集成电路测试微电子集成电路设计软硬件相关技术产业化基地配套服务西安成立; 在线阅读下载PDF 职称材料