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用光栅测长及微机处理改造万工显
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作者 刘雁蜀 《实用测试技术》 1997年第1期39-39,47,共2页
本文利用光栅和计算机技术对万能工具显微镜改造,使测量精度及工作可靠性测量效率提高了一步。实现数字显示自动记录、运算、处理结果的一体化。
关键词 光栅测长 微机处理 显微镜 技术改造 可靠性
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