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Si/SiGe/Si双异质结晶体管异质结势垒效应(HBE)研究
被引量:
12
1
作者
张万荣
曾峥
罗晋生
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第11期43-47,共5页
本文研究了不同温度下Si/SiGe/Si双异质结晶体管(DHBT)异质结势垒效应(HBE),研究发现,集电结(BC)处价带能量差△Ev越大,HBE越明显,在给定的△Ev下,随着温度的降低,HBE越显著。在低温下HBE...
本文研究了不同温度下Si/SiGe/Si双异质结晶体管(DHBT)异质结势垒效应(HBE),研究发现,集电结(BC)处价带能量差△Ev越大,HBE越明显,在给定的△Ev下,随着温度的降低,HBE越显著。在低温下HBE比常温下更严重地退化器件参数;基于以上研究结果,我们指出了减弱HBE的有效方法,本研究结果对设计开发Si/SiGe/SiHBT,尤其对设计开发低温工作的微波功率Si/SiGe/SiHBT是非常重要的。
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关键词
应变层
势垒
异质结
双极晶体管
锗化硅
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职称材料
题名
Si/SiGe/Si双异质结晶体管异质结势垒效应(HBE)研究
被引量:
12
1
作者
张万荣
曾峥
罗晋生
机构
西安交通大学电子工程系微电子学研究所
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996年第11期43-47,共5页
基金
国家教委博士点基金
文摘
本文研究了不同温度下Si/SiGe/Si双异质结晶体管(DHBT)异质结势垒效应(HBE),研究发现,集电结(BC)处价带能量差△Ev越大,HBE越明显,在给定的△Ev下,随着温度的降低,HBE越显著。在低温下HBE比常温下更严重地退化器件参数;基于以上研究结果,我们指出了减弱HBE的有效方法,本研究结果对设计开发Si/SiGe/SiHBT,尤其对设计开发低温工作的微波功率Si/SiGe/SiHBT是非常重要的。
关键词
应变层
势垒
异质结
双极晶体管
锗化硅
Keywords
SiGe strain layer,Barrier,Heterojunction bipolar transistor(HBT)Z
分类号
TN322.8 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Si/SiGe/Si双异质结晶体管异质结势垒效应(HBE)研究
张万荣
曾峥
罗晋生
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1996
12
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