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直流电压下盆式绝缘子表面电荷对沿面闪络的影响 被引量:1
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作者 金硕 郭世瑞 +3 位作者 杨宇晨 吴子威 张晓星 张瑞 《高电压技术》 北大核心 2025年第3期1180-1190,共11页
直流电压下GIS盆式绝缘子表面的电荷积聚会引起电场畸变,降低绝缘裕度,在电压极性反转过程中电场畸变情况更加严重,发生沿面闪络等故障的风险将进一步提升。围绕上述问题,该文以缩比盆式绝缘子为主要研究对象,采用有限元仿真研究了正、... 直流电压下GIS盆式绝缘子表面的电荷积聚会引起电场畸变,降低绝缘裕度,在电压极性反转过程中电场畸变情况更加严重,发生沿面闪络等故障的风险将进一步提升。围绕上述问题,该文以缩比盆式绝缘子为主要研究对象,采用有限元仿真研究了正、负电压下以及极性反转电压下的盆式绝缘子表面电荷分布特性,并结合闪络试验揭示了电荷分布对闪络电压的影响。研究结果表明,电荷密度随着加压时间的增大而增加,导致闪络电压降低,正极性电压下闪络电压最大可下降9.3%,负极性电压下闪络电压最大可下降10.7%;在负极性转正极性过程中,闪络电压最大可下降12.3%,而在正极性转负极性过程中,闪络电压最大可下降29.4%;且闪络电压与电荷密度表现为负相关。 展开更多
关键词 电荷积聚 沿面闪络 盆式绝缘子 直流GIS 极性反转
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