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基于TRIZ理论的手机指纹模组FPCB电容值不良解决方法
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作者 吴巨德 周国云 +1 位作者 龚瑞杰 梁志杰 《印制电路信息》 2025年第4期50-55,共6页
挠性印制电路板(FPCB)作为连接指纹传感器和主机端的桥梁,其电容值准确性直接关系到指纹识别技术的可靠性和安全性。利用发明问题解决理论(TRIZ),探讨手机指纹模组中FPCB电容值不良问题,分析影响电容值的因素;通过试验诊断电容值不良原... 挠性印制电路板(FPCB)作为连接指纹传感器和主机端的桥梁,其电容值准确性直接关系到指纹识别技术的可靠性和安全性。利用发明问题解决理论(TRIZ),探讨手机指纹模组中FPCB电容值不良问题,分析影响电容值的因素;通过试验诊断电容值不良原因,提出解决方法;使用纳米碳管纤维增强FPCB耐弯折性,以控制电磁屏蔽膜铜粉的粒径和抗氧化性能,采用银粉以改善电磁屏蔽膜的电阻率。通过上述举措,目前已成功生产几百万件产品,未发现失效样品。本研究旨在解决手机指纹模组中FPCB电容值不良问题,并为相关领域的研究和工程提供参考。 展开更多
关键词 TRIZ理论 挠性印制电路板 电容值不良
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