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P和α引起Al原子内壳层多电离的研究
被引量：
1
1
作者
缪竞威
N.Cue
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第1期1321-1327,共7页
本文用高分辨弯晶谱仪对0.666MeV/amu的质子和α粒子激发Al的K_αx射线进行了研究。测量了K壳层一个空位和L壳层多个空位产生的x射线相对强度比。将测定的平均电离几率P_L(E_i,0)和BEA理论的预言值进行了比较。结果表明:BEA理论对质子...
本文用高分辨弯晶谱仪对0.666MeV/amu的质子和α粒子激发Al的K_αx射线进行了研究。测量了K壳层一个空位和L壳层多个空位产生的x射线相对强度比。将测定的平均电离几率P_L(E_i,0)和BEA理论的预言值进行了比较。结果表明:BEA理论对质子和α的数据符合得很好。
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关键词
P
AL原子
内壳层
电离
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职称材料
题名
P和α引起Al原子内壳层多电离的研究
被引量：
1
1
作者
缪竞威
N.Cue
机构
四川
大学
原子核科学技术研究所
英国纽约州立大学阿伯尼分校物理系
出处
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第1期1321-1327,共7页
文摘
本文用高分辨弯晶谱仪对0.666MeV/amu的质子和α粒子激发Al的K_αx射线进行了研究。测量了K壳层一个空位和L壳层多个空位产生的x射线相对强度比。将测定的平均电离几率P_L(E_i,0)和BEA理论的预言值进行了比较。结果表明:BEA理论对质子和α的数据符合得很好。
关键词
P
AL原子
内壳层
电离
分类号
O562.4 [理学—原子与分子物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
P和α引起Al原子内壳层多电离的研究
缪竞威
N.Cue
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
1990
1
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