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基于不同总线协议的DMA控制器研究进展
1
作者
任小龙
杨延飞
+4 位作者
王立涵
严登辉
张浩
李飞飞
李连碧
《半导体技术》
北大核心
2025年第2期117-126,共10页
随着计算机技术的飞速发展,对大规模数据传输和处理效率的要求越来越高。直接存取存储(DMA)控制允许设备和存储器之间直接进行高速数据传输,有效提升了数据传输效率,因而得到广泛的研究。综述了基于不同总线架构的DMA控制器的研究进展...
随着计算机技术的飞速发展,对大规模数据传输和处理效率的要求越来越高。直接存取存储(DMA)控制允许设备和存储器之间直接进行高速数据传输,有效提升了数据传输效率,因而得到广泛的研究。综述了基于不同总线架构的DMA控制器的研究进展。首先,在分析传统中央处理器(CPU)传输数据局限性的基础上,阐述了DMA控制器与总线结合的重要性。其次,重点探讨了基于高级微控制器总线架构(AMBA)和高速外设部件互连标准(PCIe)两种常用总线协议的DMA控制器的研究进展,从频率、传输速率、功耗等方面进行性能比较和分析总结,并在此基础上展望了未来基于这两种总线协议的DMA技术的发展方向。最后,介绍了基于其他总线协议的DMA控制器的研究进展,在分析其性能优势的基础上为新型DMA控制器设计提供新思路。
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关键词
直接存取存储(DMA)控制器
高级微控制器总线架构(AMBA)
高级高性能总线(AHB)
高级可拓展接口(AXI)总线
高速外设部件互连标准(PCIe)总线
CoreConnect总线
片内总线(ICB)
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职称材料
基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案
2
作者
周中顺
夏蔡娟
+1 位作者
李连碧
李飞飞
《电子与封装》
2025年第2期34-38,共5页
针对高端自动测试成本过高与芯片设计公司日益增长的测试需求不匹配这一现状,拟采用Chroma 3380 P型测试机和长川C6100TS三温平移式分选机组合,开发一种新型的高性能自动化测试系统。通过分析芯片测试的各项要求,设计了一个综合性的测...
针对高端自动测试成本过高与芯片设计公司日益增长的测试需求不匹配这一现状,拟采用Chroma 3380 P型测试机和长川C6100TS三温平移式分选机组合,开发一种新型的高性能自动化测试系统。通过分析芯片测试的各项要求,设计了一个综合性的测试方案。搭建了完善的测试平台,充分融合了Chroma 3380P测试机的专业性能与长川C6100TS分选机的先进功能,同时通过外接高精度测试仪器,不仅实现了对芯片高效且精确的测试,还大大降低了测试成本,在ATE测试中具有通用性,为更多测试人员提供参考。
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关键词
ATE
Chroma
3380P
FT测试
C6100TS三温平移式分选机
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职称材料
题名
基于不同总线协议的DMA控制器研究进展
1
作者
任小龙
杨延飞
王立涵
严登辉
张浩
李飞飞
李连碧
机构
西安工程大学理学院
苏州飞盈微电子有限公司
出处
《半导体技术》
北大核心
2025年第2期117-126,共10页
基金
等离子体物理国家重点实验室项目(6142A04230302)
陕西省重点研发计划项目(2023-YBGY-196)
+2 种基金
陕西数理基础科学研究项目(22JSY030,22JSY012)
陕西省教育厅服务地方专项(22JC033)
西安工程大学博士科研启动基金(BS1419)。
文摘
随着计算机技术的飞速发展,对大规模数据传输和处理效率的要求越来越高。直接存取存储(DMA)控制允许设备和存储器之间直接进行高速数据传输,有效提升了数据传输效率,因而得到广泛的研究。综述了基于不同总线架构的DMA控制器的研究进展。首先,在分析传统中央处理器(CPU)传输数据局限性的基础上,阐述了DMA控制器与总线结合的重要性。其次,重点探讨了基于高级微控制器总线架构(AMBA)和高速外设部件互连标准(PCIe)两种常用总线协议的DMA控制器的研究进展,从频率、传输速率、功耗等方面进行性能比较和分析总结,并在此基础上展望了未来基于这两种总线协议的DMA技术的发展方向。最后,介绍了基于其他总线协议的DMA控制器的研究进展,在分析其性能优势的基础上为新型DMA控制器设计提供新思路。
关键词
直接存取存储(DMA)控制器
高级微控制器总线架构(AMBA)
高级高性能总线(AHB)
高级可拓展接口(AXI)总线
高速外设部件互连标准(PCIe)总线
CoreConnect总线
片内总线(ICB)
Keywords
direct memory access(DMA)controller
advanced microcontroller bus architecture(AMBA)
advanced high-performance bus(AHB)
advanced extensible interface(AXI)bus
high speed peripheral component interconnect express(PCle)bus
CoreConnect bus
internal chip bus(ICB)
分类号
TN79 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案
2
作者
周中顺
夏蔡娟
李连碧
李飞飞
机构
西安工程大学理学院
苏州飞盈微电子有限公司
出处
《电子与封装》
2025年第2期34-38,共5页
基金
等离子体物理国家重点实验室项目(6142A04230302)
陕西省重点研发计划项目(2023-YBGY-196)
+1 种基金
陕西数理基础科学研究项目(22JSY030、22JSY012)
陕西省教育厅服务地方专项(22JC033)。
文摘
针对高端自动测试成本过高与芯片设计公司日益增长的测试需求不匹配这一现状,拟采用Chroma 3380 P型测试机和长川C6100TS三温平移式分选机组合,开发一种新型的高性能自动化测试系统。通过分析芯片测试的各项要求,设计了一个综合性的测试方案。搭建了完善的测试平台,充分融合了Chroma 3380P测试机的专业性能与长川C6100TS分选机的先进功能,同时通过外接高精度测试仪器,不仅实现了对芯片高效且精确的测试,还大大降低了测试成本,在ATE测试中具有通用性,为更多测试人员提供参考。
关键词
ATE
Chroma
3380P
FT测试
C6100TS三温平移式分选机
Keywords
ATE
Chroma 3380P
FT test
C6100TS triple-temperature translational sorter
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于不同总线协议的DMA控制器研究进展
任小龙
杨延飞
王立涵
严登辉
张浩
李飞飞
李连碧
《半导体技术》
北大核心
2025
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于Chroma 3380P测试平台的高效FT测试方案
周中顺
夏蔡娟
李连碧
李飞飞
《电子与封装》
2025
0
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职称材料
已选择
0
条
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引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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