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集成功率电子器件技术述评
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作者 刘玉书 王庆丰 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1990年第5期10-15,共6页
一、引言 自从四十年代后期发明晶体管以来,半导体器件技术基本上是按照两个分支向前发展,即集成电路电子器件技术和电力电子器件技术。前者需要处理的是信息,从小规模、中规模、大规模发展到今天的超大规模集成电路。后者处理的是功率... 一、引言 自从四十年代后期发明晶体管以来,半导体器件技术基本上是按照两个分支向前发展,即集成电路电子器件技术和电力电子器件技术。前者需要处理的是信息,从小规模、中规模、大规模发展到今天的超大规模集成电路。后者处理的是功率,从小功率、中功率、大功率发展到目前的特大功率器件。 展开更多
关键词 集成电路 工艺 功率电子器件 制造
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基于通用比较模型的t-可诊断系统的特征化及并行诊断算法 被引量:3
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作者 彭宇 洪炳熔 乔永强 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2000年第2期126-133,共8页
文中介绍了一种系统级故障诊断模型——通用比较模型 .该模型允许处理器作为自身的比较器 ,综合了经典的 PMC模型和 Maeng/ Malek模型的优点 .基于该模型 ,分析了多处理器系统的 t- 可诊断性问题 ,给出了 t- 可诊断系统的特征化 ,证明... 文中介绍了一种系统级故障诊断模型——通用比较模型 .该模型允许处理器作为自身的比较器 ,综合了经典的 PMC模型和 Maeng/ Malek模型的优点 .基于该模型 ,分析了多处理器系统的 t- 可诊断性问题 ,给出了 t- 可诊断系统的特征化 ,证明了一个系统成为 t- 可诊断系统的新的充分必要条件 .其次 ,证明了在通用比较模型中 ,确定故障处理器集的问题等价于求解一个超图的最小横切集 (Minimum traversal) ,该超图是根据多处理器的通信图和比较图求得的 .最后 ,给出了特定情况下的一个系统级故障诊断并行算法 ,该算法是完全分布的 。 展开更多
关键词 t_可诊断系统 比较模型 并行算法 多处理器系统
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优良的代金镀层——钯镍合金镀层 被引量:4
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作者 张宣东 《电镀与精饰》 CAS 1993年第5期19-21,共3页
l 前言在贵金属电镀中,由于金的成本很高,人们正在努力寻找金的替代物。1985到1990年间,1g黄金的价格由8.36美元涨至16.1美元。金的成本通过电镀又转化为镀件的成本。厚度为1.27μm的金镀层1 dm~2的价格由l.83美元涨至3.12美元。金成... l 前言在贵金属电镀中,由于金的成本很高,人们正在努力寻找金的替代物。1985到1990年间,1g黄金的价格由8.36美元涨至16.1美元。金的成本通过电镀又转化为镀件的成本。厚度为1.27μm的金镀层1 dm~2的价格由l.83美元涨至3.12美元。金成本之高及价格变化之大促使人们考虑其它的贵金属。一个理想的替代金属就是钯。在同一时期,lg钯的价格由3美元涨至5.24美元,而厚度1.27μm的钯镀层l dm~2的价格仅由0.37美元涨至0.65美元。钯及其合金较低的成本、较小的价格浮动引起了电镀界的重视。在装饰品生产上,钯——镍合金镀层不仅用于底层电镀,而且也可以用于表面精饰电镀。钯——镍合金镀层在接插件。 展开更多
关键词 电镀 钯镍合金 镀层
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热模拟试验与温度测量
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作者 孙维谦 刘丽川 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 1991年第7期55-57,共3页
随着大规模集成电路的发展和电子设备小型化要求的不断提高,使电子设备的组装密度和功率密度越来越高。为此,热设计在电子工程中的重要性越来越突出,成为整机可靠性的关键。本文提出的热模拟试验与温度量,作为电子设备热设计的一种重要... 随着大规模集成电路的发展和电子设备小型化要求的不断提高,使电子设备的组装密度和功率密度越来越高。为此,热设计在电子工程中的重要性越来越突出,成为整机可靠性的关键。本文提出的热模拟试验与温度量,作为电子设备热设计的一种重要方法,供数据模拟、数值分析、研究和方案比较,选择应用。 展开更多
关键词 热模拟试验 热设计 电子设备 温度
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3kW高频磁放大器开关电源
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作者 何鸿生 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 1989年第5期23-26,22,共5页
本文介绍了一个3kW高频磁放大器开关电源.文中给出了所用循环驱动电路的原理与特性以及设计关键.
关键词 磁放大器 开关电源 电源 高频
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