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负热电离质谱技术在锇同位素测定中的应用 被引量:28
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作者 方家骏 孙卫东 +2 位作者 彭子成 王兆荣 张巽 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1997年第2期7-15,共9页
本文用MAT-262质谱仪研究了负热电高质谱技术(N-TIMS)测定Os同位素组成的一些技术问题,首次采用样品与氧化剂一起点样等方法,配合通氧气(gasbleeding),显著地提高了电高效率,所获得的高于流强度明显高于文献值。获得的非放射... 本文用MAT-262质谱仪研究了负热电高质谱技术(N-TIMS)测定Os同位素组成的一些技术问题,首次采用样品与氧化剂一起点样等方法,配合通氧气(gasbleeding),显著地提高了电高效率,所获得的高于流强度明显高于文献值。获得的非放射成因Os同位素组成与国际著名实验室的数据一致,在样品量为0.2ng时仍获得了高精度的测试数据,明显优于现已发表的ICP-MS测试结果。可以测定多数地质样品中痕量(10-9~10-12)Os的同位素组成,为拓展我国Os同体素地球化学研究提供了高精度的测试手段。 展开更多
关键词 锇同位素 负热电离质谱 N-TIMS
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