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离子注入金红石单晶生成的金属Ni纳米晶的磁学性能研究 被引量:1
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作者 向霞 祖小涛 +3 位作者 张传飞 雷家荣 朱莎 王鲁闵 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期473-476,共4页
研究了能量为64 keV、注量1×1017 cm-2的Ni离子注入金红石TiO2单晶制备的植入金属纳米晶的微观结构和磁学性能.注入层的结构和磁学性能采用透射电子显微分析(TEM)和超导量子干涉磁强计(SQUID)进行分析.结果表明,金红石单晶中有尺寸... 研究了能量为64 keV、注量1×1017 cm-2的Ni离子注入金红石TiO2单晶制备的植入金属纳米晶的微观结构和磁学性能.注入层的结构和磁学性能采用透射电子显微分析(TEM)和超导量子干涉磁强计(SQUID)进行分析.结果表明,金红石单晶中有尺寸为3~18 nm的金属Ni纳米晶生成,注入区域基体明显非晶化.10 K温度下金属Ni纳米晶的矫顽力约为16.8 kA·m-1,比Ni块材的矫顽力大.样品的零场冷却/有场冷却(ZFC/FC)曲线表明,金属Ni纳米晶的截止温度约为85 K. 展开更多
关键词 离子注入 金红石单晶 Ni纳米晶 显微结构 磁学性能
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单晶YSZ的Xe^+辐照损伤的电子显微分析 被引量:1
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作者 向霞 祖小涛 +2 位作者 吴继红 朱莎 王鲁闵 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期95-97,共3页
 不同注量200keVXe+注入YSZ单晶样品的电子显微分析结果表明,随着辐照注量的增加,缺陷簇的密度增大,在1×1015~1×1016cm-2Xe+注量,缺陷簇密度迅速增大,形成间隙型位错环;当Xe+注量增大到1×1017cm-2,缺陷簇密度的增加变...  不同注量200keVXe+注入YSZ单晶样品的电子显微分析结果表明,随着辐照注量的增加,缺陷簇的密度增大,在1×1015~1×1016cm-2Xe+注量,缺陷簇密度迅速增大,形成间隙型位错环;当Xe+注量增大到1×1017cm-2,缺陷簇密度的增加变得缓慢,并且有直径为2~4nm的Xe气泡析出。选区电子衍射花样表明YSZ样品没有产生非晶化转变。在Xe+辐照的离位率高达约350dpa的情况下,YSZ晶体没有非晶化,其原因主要是由于注入的Xe+以气泡形式析出。 展开更多
关键词 单晶YSZ Xe+辐照 透射电子显微镜 辐照缺陷
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采用EPR谱和TEM对YSZ单晶辐照损伤的研究
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作者 祖小涛 封向东 +2 位作者 雷雨 朱莎 王鲁闵 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第12期1909-1912,共4页
利用电子顺磁共振(EPR)谱和透射电子显微镜(TEM)研究了YSZ单晶的辐照效应。200 keV的Xe和400 keV的Cs离子注入[111]取向的YSZ单晶中,注量均为5×1016cm-2。EPR结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989和g⊥=1.869、对称轴为[111]... 利用电子顺磁共振(EPR)谱和透射电子显微镜(TEM)研究了YSZ单晶的辐照效应。200 keV的Xe和400 keV的Cs离子注入[111]取向的YSZ单晶中,注量均为5×1016cm-2。EPR结果表明辐照产生了共振吸收位置g‖=1.989和g⊥=1.869、对称轴为[111]的六配位Zr3+顺磁缺陷。Cs辐照产生了比Xe离子辐照多约150倍的六配位Zr3+顺磁缺陷。两种样品的剖面电子显微分析表明没有发现非晶化转变,但是Cs离子辐照的样品在损伤集中区域产生了密度较高的缺陷。因此,EPR谱和电子显微观察均说明在相同离位损伤(约160 dpa)的情况下,Cs离子辐照比Xe离子辐照产生了更多的缺陷。造成这一现象的原因是Cs离子是化学活性的而Xe离子却是惰性的。 展开更多
关键词 YSZ单晶 离子辐照 辐照缺陷 电子顺磁共振谱 透射电子显微镜
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