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吉时利扩展源测量单元(SMU)产品线
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《电子测量技术》 2006年第1期124-124,共1页
吉时利仪器公司宣布推出两款2600系列数字源表。2611和2612增加了更高的电压和电流测量能力,极其有效地降低了大量电子元器件的测试成本。两种新型号产品具备的200V和10A的量程,使其成为功能测试、硅元索及复合半导体器件如FET(场效... 吉时利仪器公司宣布推出两款2600系列数字源表。2611和2612增加了更高的电压和电流测量能力,极其有效地降低了大量电子元器件的测试成本。两种新型号产品具备的200V和10A的量程,使其成为功能测试、硅元索及复合半导体器件如FET(场效应晶体管存储器)、二极管、电压调节器、光电器件的I—V特性测试的理想选择。与同系列中其它2600系列数字源表相比,2611和2612将现有最高的数据吞吐量SMU(源测量单元)技术与紧凑的可升级的波形因子相结合.从而可实现从1到16个SMU通道的无缝系统整合。 展开更多
关键词 吉时利仪器公司 测量单元 产品线 电压调节器 扩展 场效应晶体管 数字源表 电子元器件 半导体器件 数据吞吐量
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吉时利推出射频测试仪器系列新产品
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《电子测量技术》 2006年第1期124-124,共1页
新的RF仪器集高性能、高速度、灵活性、易用性和紧凑的尺寸于一体,配合一系列新的测试测量方法,可使用户省时、省力,节约资金。
关键词 测试仪器 吉时利 产品 射频 测量方法 节约资金 高速度 易用性 RF
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吉时利发布新的用于65nm及更小尺寸技术的半导体可靠性测试系统
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《电子测量技术》 2005年第5期97-97,共1页
吉时利仪器公司发布新的S510半导体可靠性测试系统。是高通道测量的完整方案.用于先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性(WLR)测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成... 吉时利仪器公司发布新的S510半导体可靠性测试系统。是高通道测量的完整方案.用于先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性(WLR)测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成寿命建模的时间.从而减少项目的技术研发和工艺过程开发的耗时, 展开更多
关键词 吉时利仪器公司 可靠性测试 测试系统 半导体 小尺寸 技术 ULSI CMOS 过程开发
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吉时利推出新脉冲式半导体器件特性测量方案
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《电子测量技术》 2005年第4期89-89,共1页
Model 4200-SCS PIV子系统适合解决高介电High-k介质的集成电路和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性的问题的工具。
关键词 测量方案 器件特性 半导体 脉冲式 吉时利 4200-SCS MODEL 集成电路 热特性
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吉时利参加LXI联盟举行的第四次成员会议
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《电子测量技术》 2005年第5期97-97,共1页
LXI Consortium。即LXI联盟,是一个最近组成的标准化组织.于2005年5月24至25日举行了全体成员会议及其第一次协同工作测试会议.主办方为美国俄亥俄州克里夫兰市的Case Western Reserve大学。5月24日是为期一天的Plug—Fest.为成员... LXI Consortium。即LXI联盟,是一个最近组成的标准化组织.于2005年5月24至25日举行了全体成员会议及其第一次协同工作测试会议.主办方为美国俄亥俄州克里夫兰市的Case Western Reserve大学。5月24日是为期一天的Plug—Fest.为成员公司提供了测试符台初步技术规范的原形LXI器件及这些器件间协同工作能力的机会。会议于5月25日召开并向成员和非成员开放, 展开更多
关键词 会议 联盟 吉时利 WESTERN 四次 协同工作 标准化组织 CASE 俄亥俄州
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吉时利(Keithley)发布新半导体测试技术手册
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《电子测量技术》 2005年第4期73-73,共1页
手册集合吉时利半导体参数测试、器件特性分析专家经验和用户经验。它涉及到新兴的多种技术和工艺。
关键词 半导体测试 技术手册 吉时利 参数测试 用户经验 专家经验 特性分析 器件
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