-
题名整流二极管的I_R对HTRB工作寿命的影响
被引量：2
- 1
-
-
作者
保爱林
傅剑锋
邓爱民
-
机构
绍兴旭昌科技企业有限公司
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第9期726-729,共4页
-
文摘
整流器件在工作中的可靠性往往与其漏电流特别是在高温下的漏电流有密切关系,然而对高温下的漏电流往往关注不够。通过对常温与高温漏电流的对比测试,发现两者并没有一致的对应关系;通过对高温漏电流有较大差别的两组样品的高温反偏寿命试验表明:高温漏电流越大,高温反偏寿命越短,说明高温漏电流对高温反偏寿命有重要影响。依据此结果提出了通过对高温漏电流进行测试,实现对高温反偏寿命进行分档、筛选的设想。介绍了利用正向脉冲电流对二极管的pn结进行瞬态加热以实现对高温反向漏电流的快速测试的具体方法。
-
关键词
漏电流
高温反向偏压(HTRB)
加速寿命
威布尔分布
整流二极管
-
Keywords
leakage current（IR）
high temperuture reverse bias（HTRB）
accelerated life
Weibull distribution
rectifier diode
-
分类号
TN313.5
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名小封装二极管的热阻测试
被引量：2
- 2
-
-
作者
保爱林
邓爱民
傅剑锋
管国栋
-
机构
绍兴旭昌科技企业有限公司
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第11期1032-1035,共4页
-
文摘
随着封装体积的减小,半导体分立器件引线的外露部分也越来越小,这给引线温度的测试带来了巨大挑战。以封装外形为SOD-123FL的小电流整流二极管为例,介绍了结到引线的热阻和结到环境的热阻的测试方法。通过测量焊接于引线端部的小尺寸二极管芯片以及被测样品在不同温度下的热敏电压,实现了对小封装器件的引线温度和二极管本身结温的精密测量。
-
关键词
热阻
结温
小封装器件
二极管
封装尺寸
-
Keywords
thermal resistance
junction temperature
small outline device
diode
package size
-
分类号
TN31
[电子电信—物理电子学]
TN304.07
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名瞬态热阻测试在贴片二极管在线测试中的应用
被引量：2
- 3
-
-
作者
保爱林
管国栋
傅剑锋
-
机构
绍兴旭昌科技企业有限公司
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期366-368,共3页
-
文摘
表面贴装整流二极管的焊接质量直接影响其可靠性。提出了通过测试与瞬态热阻等价的热敏电压增量来评价焊接质量、筛选焊接不良的产品。利用TRR8000测试仪对样品进行合适条件下的在线筛选,能够有效剔出焊接不良产品,提高表面贴装整流二极管的可靠性。
-
关键词
瞬态热阻
结温
整流二极管
-
Keywords
transient thermal impedance
junction temperature
rectifier diodes
-
分类号
TN360
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名整流二极管瞬态HTIR测试
- 4
-
-
作者
保爱林
傅兴中
徐泓
-
机构
绍兴旭昌科技企业有限公司
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第11期873-876,共4页
-
文摘
整流器件在高温下的漏电流(HTIR)对其工作中的可靠性有重要影响。目前对整流二极管HTIR的测试只限于稳态测试。由于其测试效率低下,不适于制造过程中的快速筛选。利用电流脉冲对整流二极管的pn结瞬态加热并在其后进行快速测试的方法,进行了瞬态HTIR筛选测试实验。与稳态测试进行了对比,结果表明:当瞬态HTIR测试值作为筛选条件确定后,筛选精度与结温以及导致该结温的瞬态加热条件有关,较高的结温有利于提高筛选精度。
-
关键词
整流二极管
高温漏电流(HTIR)
筛选
结温
瞬态加热
-
Keywords
rectifier diode
high temperature leakage current （HTIR）
screening
junctiontemperature
transient heat
-
分类号
TN313.5
[电子电信—物理电子学]
-
