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RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析
1
作者
阮世池
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第1期103-107,共5页
利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析，查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体，引起电阻器的导电膜被电解腐蚀，最终导致电阻器失效。
关键词
电子显微分析
电阻器
绝缘涂复层
失效
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职称材料
题名
RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析
1
作者
阮世池
机构
电子科技大学电子材料分析中心
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第1期103-107,共5页
文摘
利用电子显微分析法对失效电阻作了电子显微分析，查明了劣质的电阻器绝缘涂复层的防潮性能和防腐性能差。由于电阻器吸入了水汽和腐蚀性气体，引起电阻器的导电膜被电解腐蚀，最终导致电阻器失效。
关键词
电子显微分析
电阻器
绝缘涂复层
失效
Keywords
electron probe microanalysis
resistor
insulated-coat
disfuction
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
TM540.6 [电气工程—电器]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
RY-2W-15kΩ电阻器失效机理电子显微分析
阮世池
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
0
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