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中国网络动画IP运营与发展策略研究
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作者 高登明 《电影评介》 北大核心 2025年第8期102-107,共6页
近年来,我国网络动画发展迅速,产业规模不断扩大的同时,也出现了IP优质作品不足、商业气息过重、引进力度不够、保护机制欠缺和出口活跃度低等问题。这些问题影响了网络动画IP运营的高质量发展和创新型转化。通过对网络动画IP运营模式分... 近年来,我国网络动画发展迅速,产业规模不断扩大的同时,也出现了IP优质作品不足、商业气息过重、引进力度不够、保护机制欠缺和出口活跃度低等问题。这些问题影响了网络动画IP运营的高质量发展和创新型转化。通过对网络动画IP运营模式分析,发现运营核心、运营重点和运营关键等环节与动画产业动画运营和动画输出有密切关系。结合网络动画IP运营现状,提出打造网络动画IP优质内容、优化网络动画IP运营模式、引导网络动画IP融入国家战略、增强网络动画IP保护机制和加快网络动画IP“出海”进程等五步策略,以期提升网络动画IP质量,推动中华优秀传统文化走向更广阔的舞台,焕发出新的时代魅力。 展开更多
关键词 网络动画 动画IP 发展策略
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改进的支持向量分类机在客户流失预测中的应用 被引量:8
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作者 夏国恩 邵培基 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2009年第6期2044-2046,2052,共4页
针对目前客户流失预测方法的不足,在利用训练样本中不同类个数比值来确定各类惩罚参数的基础上,改进标准的C-支持向量分类机(SVC)。通过以美国某电信公司客户流失预测为实例,与标准C-SVC、人工神经网络、决策树、贝叶斯分类器等方法进... 针对目前客户流失预测方法的不足,在利用训练样本中不同类个数比值来确定各类惩罚参数的基础上,改进标准的C-支持向量分类机(SVC)。通过以美国某电信公司客户流失预测为实例,与标准C-SVC、人工神经网络、决策树、贝叶斯分类器等方法进行了对比,发现该方法能获得较好的正确率、命中率、覆盖率和提升系数,是研究客户流失预测问题的有效方法。 展开更多
关键词 客户流失 支持向量分类机 电信业 惩罚参数
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基于支持向量机的商务智能系统综合评价研究 被引量:4
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作者 夏国恩 邵培基 《计算机应用研究》 CSCD 北大核心 2009年第5期1789-1791,1795,共4页
在建立商务智能系统(B IS)综合评价指标体系的基础上,应用支持向量机,研究了B IS综合评价问题,通过仿真实验发现基于支持向量机(SVM)综合评价的测试排序与专家排序保持一致,且测试结果的相对误差较小。结果表明,基于支持向量机的综合评... 在建立商务智能系统(B IS)综合评价指标体系的基础上,应用支持向量机,研究了B IS综合评价问题,通过仿真实验发现基于支持向量机(SVM)综合评价的测试排序与专家排序保持一致,且测试结果的相对误差较小。结果表明,基于支持向量机的综合评价方法能较好地反映B IS评价问题的序结构,是一种研究B IS综合排序评价问题的有效方法。 展开更多
关键词 商务智能系统 支持向量机 综合评价 指标体系
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混响室搅拌器搅拌速度及工作模式对测试结果的影响 被引量:2
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作者 陈京平 贾锐 +1 位作者 唐斌 石海天 《科学技术与工程》 北大核心 2014年第6期168-170,174,共4页
进行了设备在混响室不同模式、不同搅拌速度下的电磁辐射敏感度实验,研究了连续模式下不同搅拌速度对设备敏感度阈值的影响,对连续模式较低转速(1.5 r/min)下与步进模式下的测试结果进行了对比分析。结果表明:混响室处于连续工作模式时... 进行了设备在混响室不同模式、不同搅拌速度下的电磁辐射敏感度实验,研究了连续模式下不同搅拌速度对设备敏感度阈值的影响,对连续模式较低转速(1.5 r/min)下与步进模式下的测试结果进行了对比分析。结果表明:混响室处于连续工作模式时,由于较高转速会产生较复杂的电磁环境,受试设备的敏感度会提高;且经对比发现,设备在该模式下的敏感度阈值会低于混响室在步进模式下的测试结果。 展开更多
关键词 辐射敏感度 混响室 电磁兼容 测试方法
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一种提高芯片良率的时序电路缓冲器插入算法
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作者 戢小亮 佟星元 +1 位作者 吴睿振 杜鸣 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第12期2964-2969,共6页
针对集成电路工艺参数波动影响芯片良率的问题,提出一种提高芯片良率的时序电路缓冲器插入算法.该算法通过蒙特卡罗仿真模拟流片后的芯片,确定时序电路中可插入缓冲器的最佳位置,在保证良率的前提下,降低了面积及成本损耗.算法经过ISCA... 针对集成电路工艺参数波动影响芯片良率的问题,提出一种提高芯片良率的时序电路缓冲器插入算法.该算法通过蒙特卡罗仿真模拟流片后的芯片,确定时序电路中可插入缓冲器的最佳位置,在保证良率的前提下,降低了面积及成本损耗.算法经过ISCAS89的基准电路和TAU2013的电路进行仿真验证,结果表明插入缓冲器的数量小于等于触发器数量的1%,良率提高高达35. 98%. 展开更多
关键词 工艺参数波动 芯片良率 缓冲器
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