期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
高速接口芯片测试技术
被引量：
1
1
作者
李科童
刘旸
《中国集成电路》
2006年第9期69-73,32,共6页
关键词
接口芯片
高速接口
测试技术
LVDS
微电子
传输量
在线阅读
下载PDF
职称材料
基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
2
作者
孔争辉
《中国集成电路》
2005年第8期81-83,共3页
通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。
关键词
USB
2.0接口
串行总线
测试
Advantest
T6500系列
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
高速接口芯片测试技术
被引量：
1
1
作者
李科童
刘旸
机构
爱
德
万
测试
北京
分
公司
爱德万测试上海分公司
出处
《中国集成电路》
2006年第9期69-73,32,共6页
关键词
接口芯片
高速接口
测试技术
LVDS
微电子
传输量
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
2
作者
孔争辉
机构
爱德万测试上海分公司
出处
《中国集成电路》
2005年第8期81-83,共3页
文摘
通用串行总线(USB)是现在应用很广的接口,本文首先对目前最常用的USB2.0接口进行简单的介绍,接着对USB2.0的一部分测试项目及在ATE上的测试方法进行简单的介绍。
关键词
USB
2.0接口
串行总线
测试
Advantest
T6500系列
分类号
TP336 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高速接口芯片测试技术
李科童
刘旸
《中国集成电路》
2006
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于Advantest T6500系列的USB2.0测试解决方案介绍
孔争辉
《中国集成电路》
2005
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
