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ATR-THz波谱结合PLS-DA对陈化小麦快速无损鉴别研究 被引量:2
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作者 王冬 潘立刚 +5 位作者 刘龙海 江元卿 李安 靳欣欣 马智宏 王纪华 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第7期2036-2041,共6页
采用ATP附件采集了人工控制条件老化小麦样品的太赫兹波谱数据,并在PCA综合得分基础上对数据进行分集,建立陈化小麦的快速无损鉴别PLS-DA模型,并对其进行外部验证。结果显示,针对吸收系数谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验... 采用ATP附件采集了人工控制条件老化小麦样品的太赫兹波谱数据,并在PCA综合得分基础上对数据进行分集,建立陈化小麦的快速无损鉴别PLS-DA模型,并对其进行外部验证。结果显示,针对吸收系数谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,94.7%,84.2%和81.6%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为73.7%和100.0%;针对折射率谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,92%,76.3%和76.3%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为84.2%和89.5%。研究表明,ATR-THz技术在陈化小麦无损鉴别方面具有一定的应用潜力。 展开更多
关键词 太赫兹波谱 衰减全反射 小麦 综合得分 判别分析
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以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
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作者 徐勇 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期59-61,共3页
介绍了常见的SOC测试系统上使用周期延长法针对SOC内置锁相环进行测试的方法。
关键词 SOC 测试系统. 周期延长法 锁相环 CRITICAL PATH 片上系统
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