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ATR-THz波谱结合PLS-DA对陈化小麦快速无损鉴别研究
被引量：
2
1
作者
王冬
潘立刚
+5 位作者
刘龙海
江元卿
李安
靳欣欣
马智宏
王纪华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期2036-2041,共6页
采用ATP附件采集了人工控制条件老化小麦样品的太赫兹波谱数据,并在PCA综合得分基础上对数据进行分集,建立陈化小麦的快速无损鉴别PLS-DA模型,并对其进行外部验证。结果显示,针对吸收系数谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验...
采用ATP附件采集了人工控制条件老化小麦样品的太赫兹波谱数据,并在PCA综合得分基础上对数据进行分集,建立陈化小麦的快速无损鉴别PLS-DA模型,并对其进行外部验证。结果显示,针对吸收系数谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,94.7%,84.2%和81.6%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为73.7%和100.0%;针对折射率谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,92%,76.3%和76.3%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为84.2%和89.5%。研究表明,ATR-THz技术在陈化小麦无损鉴别方面具有一定的应用潜力。
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关键词
太赫兹波谱
衰减全反射
小麦
综合得分
判别分析
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职称材料
以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
2
作者
徐勇
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期59-61,共3页
介绍了常见的SOC测试系统上使用周期延长法针对SOC内置锁相环进行测试的方法。
关键词
SOC
测试系统.
周期延长法
锁相环
CRITICAL
PATH
片上系统
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职称材料
题名
ATR-THz波谱结合PLS-DA对陈化小麦快速无损鉴别研究
被引量：
2
1
作者
王冬
潘立刚
刘龙海
江元卿
李安
靳欣欣
马智宏
王纪华
机构
北京农业质量标准与检测技术研究中心
农业部农产品质量安全风险评估实验室(北京)
爱德万测试
(中国)管理有限公司
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期2036-2041,共6页
基金
国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ14000507)
北京市农林科学院青年基金项目(QNJJ201431)资助
文摘
采用ATP附件采集了人工控制条件老化小麦样品的太赫兹波谱数据,并在PCA综合得分基础上对数据进行分集,建立陈化小麦的快速无损鉴别PLS-DA模型,并对其进行外部验证。结果显示,针对吸收系数谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,94.7%,84.2%和81.6%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为73.7%和100.0%;针对折射率谱,所建模型的校正集实验组、对照组以及交互验证实验组、对照组正确率分别为84.2%,92%,76.3%和76.3%,外部验证集实验组、对照组正确率分别为84.2%和89.5%。研究表明,ATR-THz技术在陈化小麦无损鉴别方面具有一定的应用潜力。
关键词
太赫兹波谱
衰减全反射
小麦
综合得分
判别分析
Keywords
Terahertz spectroscopy
Attenuated total reflection
Wheat
Composite score
Discriminant analysis
分类号
O657.33 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
2
作者
徐勇
机构
爱德万测试
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第5期59-61,共3页
文摘
介绍了常见的SOC测试系统上使用周期延长法针对SOC内置锁相环进行测试的方法。
关键词
SOC
测试系统.
周期延长法
锁相环
CRITICAL
PATH
片上系统
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ATR-THz波谱结合PLS-DA对陈化小麦快速无损鉴别研究
王冬
潘立刚
刘龙海
江元卿
李安
靳欣欣
马智宏
王纪华
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
2
在线阅读
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职称材料
2
以延长周期的方法实现SOC芯片内置PLL的critical path的查找
徐勇
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
0
在线阅读
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职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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