研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off(EFO)过程中的Free Air Ball(FAB)...研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off(EFO)过程中的Free Air Ball(FAB)偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀;延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中,并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低;镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度,造成长的热影响区和颈部晶粒粗大,降低其力学性能,焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝.展开更多
文摘研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off(EFO)过程中的Free Air Ball(FAB)偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀;延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中,并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低;镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度,造成长的热影响区和颈部晶粒粗大,降低其力学性能,焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝.