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磁电式多圈旋转角度编码器磁场性能研究
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作者 何利 刘红华 +2 位作者 周灿 唐欣 杜卯春 《中南大学学报(自然科学版)》 北大核心 2025年第6期2257-2265,共9页
基于静磁场理论对单永磁体和多永磁体外的磁感应强度进行理论分析,得出磁石空间内任一位置磁感应强度B与磁石的外形尺寸、磁石间的间距以及永磁体材质均有强联系。基于Maxwell仿真软件,对上述影响因素进行单变量数据分析,当永磁体材质为... 基于静磁场理论对单永磁体和多永磁体外的磁感应强度进行理论分析,得出磁石空间内任一位置磁感应强度B与磁石的外形尺寸、磁石间的间距以及永磁体材质均有强联系。基于Maxwell仿真软件,对上述影响因素进行单变量数据分析,当永磁体材质为N45M、直径×厚度为6 mm×2.5 mm、与感磁芯片间距为2 mm时,编码器单圈绝对角度误差约为0.29°。随着相对偏心量增加,单圈绝对角度误差呈线性增加,增加速率为6.996(°)/mm。当3个永磁体磁石相互干扰时,中间磁石单圈绝对角度误差约为1.39°,其中,传动比为1:16磁石对单圈绝对角度误差影响占比约为61.5%。通过搭建测试环境,对比验证了理论及仿真分析结果的合理性。本文的研究结果可为磁电式旋转角度编码器磁源结构优化、电磁抗干扰、安装工艺等措施的开发提供理论参考及数据支撑。 展开更多
关键词 编码器 MAXWELL 磁场仿真
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