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Au和Fe二十面体的高分辨透射电子显微像模拟与应变分析
被引量：
1
1
作者
郑翔
于荣
+2 位作者
谢琳
吴浩
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期428-434,共7页
像差校正在透射电子显微镜中的实现不仅提高了高分辨透射电镜的分辨率,也使人们得以直接测量材料中的原子构型。二十面体是金属与合金催化剂颗粒所具有的一种典型的结构形式,可看作由二十个四面体组成多重孪晶结构。它们在任何一个方向...
像差校正在透射电子显微镜中的实现不仅提高了高分辨透射电镜的分辨率,也使人们得以直接测量材料中的原子构型。二十面体是金属与合金催化剂颗粒所具有的一种典型的结构形式,可看作由二十个四面体组成多重孪晶结构。它们在任何一个方向的投影都是两个或更多四面体的叠加,这使得它们的高分辨图像的解释变得困难。本研究构建了9种不同条件下的二十面体小颗粒模型,利用多片层法模拟颗粒的高分辨透射电子显微图像。通过对比高分辨电镜模拟像的定量分析结果与相应的结构模型,结果表明要获得精确的定量分析结果,有必要选择合适的分析区域。在特定区域,晶面间距的测量误差约2%～4%;而在其它区域,误差可达8%～10%。
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关键词
高分辨电子显微术
图像模拟
应变分析
二十面体
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职称材料
基于自适应陷波器的电子能量损失谱能量漂移的消除方法
2
作者
谢琳
袁俊
+1 位作者
王志伟
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2013年第1期1-5,共5页
电子能量损失谱是透射电子显微术中一种重要的分析手段,它可以帮助人们从纳米尺度上认识材料的电子结构等信息。但电子能量损失谱仪特别容易受到周围环境因素的影响,比如说固定工频干扰,而产生电子能量损失谱能量的漂移。本文结合串行...
电子能量损失谱是透射电子显微术中一种重要的分析手段,它可以帮助人们从纳米尺度上认识材料的电子结构等信息。但电子能量损失谱仪特别容易受到周围环境因素的影响,比如说固定工频干扰,而产生电子能量损失谱能量的漂移。本文结合串行快响应能谱探测器和自适应陷波器手段,提出了一种消除电子能量损失谱中能量漂移的方法,实验结果表明这种方法能够有效消除电子能量损失谱中由于固定工频干扰所造成的能量漂移。
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关键词
电子能量损失谱
自适应陷波器
能量漂移
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职称材料
外延BiFeO_3薄膜的TEM显微结构表征
被引量：
6
3
作者
张腾
于荣
+2 位作者
朱静
詹倩
朱英豪
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2012年第4期281-285,共5页
外延BiFeO3薄膜中丰富的结构与特殊的性能一直是近年来研究的热点。显微结构的研究不仅可以帮助人们进一步认识BiFeO3的结构信息,还可以帮助人们深入了解BiFeO3结构与性能间的关系,开拓新的应用领域。本文利用球差校正高分辨透射电子显...
外延BiFeO3薄膜中丰富的结构与特殊的性能一直是近年来研究的热点。显微结构的研究不仅可以帮助人们进一步认识BiFeO3的结构信息,还可以帮助人们深入了解BiFeO3结构与性能间的关系,开拓新的应用领域。本文利用球差校正高分辨透射电子显微镜对外延在LaAlO3过渡层/Si基底上的BiFeO3薄膜进行研究。通过原子尺度的定量分析,在应力状态复杂区域观察到类菱方相、应力释放后恢复的菱方相以及拉应力状态下c/a值小于1的类菱方相,并在该区域观察到109°铁电畴,且畴间存在4.4°的畸变夹角。还观察到比较大的c/a比。
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关键词
多铁性
高分辨电子显微术
铁电畴
菱方相
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职称材料
题名
Au和Fe二十面体的高分辨透射电子显微像模拟与应变分析
被引量：
1
1
作者
郑翔
于荣
谢琳
吴浩
朱静
机构
清华大学材料系
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期428-434,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(Nos.5080104,051071092)
教育部全国百篇优秀博士论文作者专项
科技部创新方法项目(2010IM031300)
文摘
像差校正在透射电子显微镜中的实现不仅提高了高分辨透射电镜的分辨率,也使人们得以直接测量材料中的原子构型。二十面体是金属与合金催化剂颗粒所具有的一种典型的结构形式,可看作由二十个四面体组成多重孪晶结构。它们在任何一个方向的投影都是两个或更多四面体的叠加,这使得它们的高分辨图像的解释变得困难。本研究构建了9种不同条件下的二十面体小颗粒模型,利用多片层法模拟颗粒的高分辨透射电子显微图像。通过对比高分辨电镜模拟像的定量分析结果与相应的结构模型,结果表明要获得精确的定量分析结果,有必要选择合适的分析区域。在特定区域,晶面间距的测量误差约2%～4%;而在其它区域,误差可达8%～10%。
关键词
高分辨电子显微术
图像模拟
应变分析
二十面体
Keywords
high resolution transmission electron microscopy（HRTEM）
image simulations
strain analysis
icosahedron
分类号
TG111 [金属学及工艺—物理冶金]
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职称材料
题名
基于自适应陷波器的电子能量损失谱能量漂移的消除方法
2
作者
谢琳
袁俊
王志伟
朱静
机构
清华大学材料系北京电子显微镜中心
约克
大学
物理系
伯明翰
大学
物理与天文学院
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2013年第1期1-5,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.50831001
No.50971075)
文摘
电子能量损失谱是透射电子显微术中一种重要的分析手段,它可以帮助人们从纳米尺度上认识材料的电子结构等信息。但电子能量损失谱仪特别容易受到周围环境因素的影响,比如说固定工频干扰,而产生电子能量损失谱能量的漂移。本文结合串行快响应能谱探测器和自适应陷波器手段,提出了一种消除电子能量损失谱中能量漂移的方法,实验结果表明这种方法能够有效消除电子能量损失谱中由于固定工频干扰所造成的能量漂移。
关键词
电子能量损失谱
自适应陷波器
能量漂移
Keywords
electron energy-loss spectrum
adaptive notch filter
energy drifts
分类号
TN713 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
外延BiFeO_3薄膜的TEM显微结构表征
被引量：
6
3
作者
张腾
于荣
朱静
詹倩
朱英豪
机构
清华大学材料系北京电子显微镜中心
北京
科技
大学
材料
学院
台湾交通
大学
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2012年第4期281-285,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.51071092)
教育部留学回国人员科研启动基金资助项目(No.50971015)
+1 种基金
教育部全国百篇优秀博士论文作者专项
科技部创新方法项目(No.2010IM031300)
文摘
外延BiFeO3薄膜中丰富的结构与特殊的性能一直是近年来研究的热点。显微结构的研究不仅可以帮助人们进一步认识BiFeO3的结构信息,还可以帮助人们深入了解BiFeO3结构与性能间的关系,开拓新的应用领域。本文利用球差校正高分辨透射电子显微镜对外延在LaAlO3过渡层/Si基底上的BiFeO3薄膜进行研究。通过原子尺度的定量分析,在应力状态复杂区域观察到类菱方相、应力释放后恢复的菱方相以及拉应力状态下c/a值小于1的类菱方相,并在该区域观察到109°铁电畴,且畴间存在4.4°的畸变夹角。还观察到比较大的c/a比。
关键词
多铁性
高分辨电子显微术
铁电畴
菱方相
Keywords
BiFeO3； HRTEM； ferroelectric domain； rhombohedral phase
分类号
TB34 [一般工业技术—材料科学与工程]
O76 [理学—晶体学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Au和Fe二十面体的高分辨透射电子显微像模拟与应变分析
郑翔
于荣
谢琳
吴浩
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2011
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
基于自适应陷波器的电子能量损失谱能量漂移的消除方法
谢琳
袁俊
王志伟
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2013
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
外延BiFeO_3薄膜的TEM显微结构表征
张腾
于荣
朱静
詹倩
朱英豪
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2012
6
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职称材料
已选择
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