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基于存储器图形算法老炼试验研究
被引量：
1
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作者
李可
张驰
+1 位作者
刘芳
方晓伟
《信息技术与标准化》
2018年第11期31-35,共5页
详细阐述了顺序、棋盘、齐步三种测试图形算法作为研究对象,以三种测试图形算法作为老炼试验应力,设计试验方案,并开展老炼试验,统计试验前后存储器参数变化,对比分析激发存储器早期缺陷的作用。
关键词
可靠性
存储器
老炼试验
图形算法
棋盘图形
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职称材料
题名
基于存储器图形算法老炼试验研究
被引量：
1
1
作者
李可
张驰
刘芳
方晓伟
机构
北京赛西科技发展
有限责任公司
中
国
电子
技术标准化研究院
深圳市国微电子有限责任公司
出处
《信息技术与标准化》
2018年第11期31-35,共5页
文摘
详细阐述了顺序、棋盘、齐步三种测试图形算法作为研究对象,以三种测试图形算法作为老炼试验应力,设计试验方案,并开展老炼试验,统计试验前后存储器参数变化,对比分析激发存储器早期缺陷的作用。
关键词
可靠性
存储器
老炼试验
图形算法
棋盘图形
Keywords
reliability
memory
burn-in memory
pattern algorithms
graphic board
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
基于存储器图形算法老炼试验研究
李可
张驰
刘芳
方晓伟
《信息技术与标准化》
2018
1
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