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开路电压与太阳电池少子寿命关系的推导及其应用的研究 被引量:6
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作者 彭银生 陈庭金 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期50-54,共5页
从理论上详细推导了晶体硅太阳电池在脉冲光照下,开路电压V_(?)(t)与少数载流子寿命的关系,同时研究了N-P结势垒电容放电时对V_(?)(t)的影响;从实验上验证了开路电压随时间的衰减关系。并运用该关系测量了硅太阳电池少数载流子寿命,测... 从理论上详细推导了晶体硅太阳电池在脉冲光照下,开路电压V_(?)(t)与少数载流子寿命的关系,同时研究了N-P结势垒电容放电时对V_(?)(t)的影响;从实验上验证了开路电压随时间的衰减关系。并运用该关系测量了硅太阳电池少数载流子寿命,测量结果较为准确。 展开更多
关键词 太阳电池 开路电压衰减法测量 少子寿命
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