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硅基前体在先进集成电路制造中的应用与技术进展
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作者 刘见华 袁振军 +4 位作者 常欣 赵喜哲 万烨 余学功 杨德仁 《化工进展》 北大核心 2025年第9期5255-5264,共10页
随着集成电路制造技术的发展,特别是进入28nm/14nm/7nm等先进制程,对晶体管器件、工艺和材料提出了新的要求。硅基前体材料因其高纯度和特定性能参数,在晶圆制造的外延工艺、光刻工艺、化学气相沉积(CVD)和原子层沉积(ALD)中扮演着关键... 随着集成电路制造技术的发展,特别是进入28nm/14nm/7nm等先进制程,对晶体管器件、工艺和材料提出了新的要求。硅基前体材料因其高纯度和特定性能参数,在晶圆制造的外延工艺、光刻工艺、化学气相沉积(CVD)和原子层沉积(ALD)中扮演着关键角色。文章重点分析和讨论了几种主要的硅基前体材料在先进集成电路制造中的应用现状、研究进展以及合成和提纯工艺技术,包括五氯乙硅烷(PCDS)、新戊硅烷(NPS)、二甲基二甲氧基硅烷(DMDMOS)、二乙氧基甲基硅烷(DEMS)、二异丙胺基硅烷(DIPAS)、六甲基二硅氮烷(HMDS)、正硅酸乙酯(TEOS)、一氯硅烷(MCS)、三甲硅烷基胺(TSA)和双(叔丁氨基)硅烷(BTBAS)等。 展开更多
关键词 硅基前体 先进集成电路 化学气相沉积 原子层沉积 合成工艺 提纯技术
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