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新型VBO接口芯片静电放电防护器件
被引量:
4
1
作者
徐泽坤
沈宏宇
+2 位作者
胡涛
李响
董树荣
《浙江大学学报(工学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019年第4期794-800,共7页
为了改进VBO接口电路静电放电(ESD)防护器件性能,提出2种新的ESD防护器件:栅二极管与面积效率二极管触发可控硅整流器(SCR).采用SMIC 40 nm CMOS工艺与SMIC 28 nm PS CMOS工艺制备传统二极管、栅二极管、面积效率SCR;通过半导体工艺及...
为了改进VBO接口电路静电放电(ESD)防护器件性能,提出2种新的ESD防护器件:栅二极管与面积效率二极管触发可控硅整流器(SCR).采用SMIC 40 nm CMOS工艺与SMIC 28 nm PS CMOS工艺制备传统二极管、栅二极管、面积效率SCR;通过半导体工艺及器件模拟工具(TCAD)进行仿真,分析电流密度;通过传输线脉冲测试(TLP)方法,测试不同结构ESD防护器件的Ⅰ-Ⅴ特性.栅二极管的ESD鲁棒性为19.7 mA/μm,导通电阻为1.28Ω,相较于传统二极管降低了38.8%.面积效率二极管触发SCR触发电压为1.82 V,鲁棒性为48.1 mA/μm,相较于传统二极管提升了174.8%.测试结果表明,栅二极管与ASCR和传统ESD器件相比,性能有极大的提升,适合用作VBO接口芯片的ESD防护.
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关键词
静电放电(ESD)
VBO
可控硅整流器(SCR)
面积效率
触发电压
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职称材料
题名
新型VBO接口芯片静电放电防护器件
被引量:
4
1
作者
徐泽坤
沈宏宇
胡涛
李响
董树荣
机构
浙江大学微电子学院esd实验室
出处
《浙江大学学报(工学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019年第4期794-800,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(U1613202
U1609210)
文摘
为了改进VBO接口电路静电放电(ESD)防护器件性能,提出2种新的ESD防护器件:栅二极管与面积效率二极管触发可控硅整流器(SCR).采用SMIC 40 nm CMOS工艺与SMIC 28 nm PS CMOS工艺制备传统二极管、栅二极管、面积效率SCR;通过半导体工艺及器件模拟工具(TCAD)进行仿真,分析电流密度;通过传输线脉冲测试(TLP)方法,测试不同结构ESD防护器件的Ⅰ-Ⅴ特性.栅二极管的ESD鲁棒性为19.7 mA/μm,导通电阻为1.28Ω,相较于传统二极管降低了38.8%.面积效率二极管触发SCR触发电压为1.82 V,鲁棒性为48.1 mA/μm,相较于传统二极管提升了174.8%.测试结果表明,栅二极管与ASCR和传统ESD器件相比,性能有极大的提升,适合用作VBO接口芯片的ESD防护.
关键词
静电放电(ESD)
VBO
可控硅整流器(SCR)
面积效率
触发电压
Keywords
electrostatic discharge(ESD)
VBO
silicon controlled rectifier(SCR)
area efficiency
trigger voltage
分类号
TN335 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
新型VBO接口芯片静电放电防护器件
徐泽坤
沈宏宇
胡涛
李响
董树荣
《浙江大学学报(工学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2019
4
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